合金分析儀的基本簡(jiǎn)介

        合金分析儀是一種 XRF 光譜分析技術(shù)，可用于識(shí)別和量化物質(zhì)中的特定元素。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)（λ）和能量（E）確定特定元素，并通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定該元素的含量。通過(guò)這種方式，XRF 光譜可以確定物質(zhì)的元素組成。
        每個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（帶負(fù)電的粒子）圍繞原子核運(yùn)行。并且電子的數(shù)量等于原子核中的質(zhì)子（帶正電的粒子）的數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)，我們可以知道質(zhì)子的數(shù)量。每個(gè)原子序數(shù)對(duì)應(yīng)一個(gè)固定的元素名稱，如鐵，元素名稱為Fe，原子序數(shù)為26。能量色散X-熒光和波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜分析技術(shù)專門研究和應(yīng)用了在*里面的三個(gè)電子軌道上活動(dòng)，即K、L、M。K軌道離原子核*近，每個(gè)電子軌道對(duì)應(yīng)于某種元素的特定能量層（Inos合金分析儀中國(guó)服務(wù)商）。
        在 XRF 分析中，從 X 射線管發(fā)射的高能初級(jí)射線光子撞擊樣品元素。這些初級(jí)光子包含足夠的能量來(lái)?yè)袈?內(nèi)層（K 或 L 層）中的電子。此時(shí)，原子變成不穩(wěn)定的離子。由于電子本能地尋求穩(wěn)定性，因此來(lái)自外層 L 或 M 層的電子進(jìn)入構(gòu)成內(nèi)層的空間。當(dāng)這些電子從外層傳遞到內(nèi)層時(shí)，它們會(huì)釋放能量，我們稱之為二次 X 射線光子。整個(gè)過(guò)程稱為熒光輻射。每種元素的二次射線都有自己的特點(diǎn)。 X射線光子熒光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)外層的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量約為6.4 keV。特定元素在一定時(shí)期內(nèi)發(fā)射的 X 射線的數(shù)量或密度可用于測(cè)量該元素的數(shù)量。典型的 XRF 能量分布光譜顯示了不同能量下的光子密度分布。
        合金分析儀檢測(cè)范圍
        鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、Ni、Cu、Zn、Se、Nb、Zr、Mo、Pd、Ag、Sn、Sb、Ta、Hf、Re、W、Pb、Bi