不同種類的測(cè)厚儀的應(yīng)用

        1、激光測(cè)厚儀利用激光的反射原理測(cè)量產(chǎn)品的厚度，根據(jù)光學(xué)截面法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀。這是一種非接觸式方法。類型的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工控機(jī)連接，快速處理數(shù)據(jù)，輸出偏差值至各種工控設(shè)備。
         2、當(dāng)X射線測(cè)厚儀穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線強(qiáng)度的變化與材料的厚度有關(guān)。滄州光學(xué)測(cè)量材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量。儀器。它以PLC和工控機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并將目標(biāo)偏差值輸出到軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，以達(dá)到所需的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬帶箔加工，冶金行業(yè)帶材加工。
         3、紙張測(cè)厚儀：適用于測(cè)量4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板等片材的厚度。
         4、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)量薄膜、片材等材料的厚度。測(cè)量范圍寬，測(cè)量精度高。
         5、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量黑色金屬和有色金屬基材上涂層的厚度。
         6、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理進(jìn)行測(cè)厚的。光譜 當(dāng)探頭發(fā)出的超聲波脈沖穿過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中的傳播時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度.該原理可用于測(cè)量各種能使超聲波在其內(nèi)部勻速傳播的材料。