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電壓跌落測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)解析

日期:2024-12-28 02:49
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摘要:電壓跌落試驗(yàn)(DIP)是電磁兼容性(EMC)測(cè)試中的一項(xiàng)重要內(nèi)容,旨在評(píng)估電氣和電子設(shè)備在電源電壓突然下降時(shí)的性能穩(wěn)定性和適應(yīng)性。

電壓跌落試驗(yàn)(DIP)是電磁兼容性(EMC)測(cè)試中的一項(xiàng)重要內(nèi)容,旨在評(píng)估電氣和電子設(shè)備在電源電壓突然下降時(shí)的性能穩(wěn)定性和適應(yīng)性。以下是對(duì)電壓跌落試驗(yàn)(DIP)的詳細(xì)解析:

一、試驗(yàn)?zāi)康?/span>

電壓跌落試驗(yàn)的主要目的是模擬電網(wǎng)電壓突然下降的情況,以評(píng)估設(shè)備對(duì)電源電壓跌落的抵抗能力。通過(guò)該試驗(yàn),可以了解設(shè)備在電壓跌落過(guò)程中的行為表現(xiàn),為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供重要參考。

二、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范

EMS測(cè)試是評(píng)估電子產(chǎn)品對(duì)電磁干擾的敏感程度的重要指標(biāo)。在EMS測(cè)試中,DIP(電壓跌落)測(cè)試是其中之一。DIP測(cè)試主要模擬電源系統(tǒng)瞬時(shí)電壓下降的現(xiàn)象,用于評(píng)估設(shè)備在電壓波動(dòng)下的性能。

      DIP測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)主要模擬電源系統(tǒng)瞬時(shí)電壓下降的現(xiàn)象,用于評(píng)估設(shè)備在電壓波動(dòng)下的性能。

      DIP測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)主要參考國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)的相關(guān)規(guī)定。具體測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如下:

      1、IEC 61000-4-11:電磁兼容性(EMC)-第4-11部分:電壓跌落和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓跌落和短時(shí)中斷測(cè)試的方法和驗(yàn)收準(zhǔn)則。

      2、GB/T 17626.11-2008:電磁兼容性(EMC)-第11部分:電壓跌落和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)。這是我國(guó)針對(duì)電磁兼容性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn),等同采用IEC 61000-4-11。

     3、GB/T 1865-2009:電氣照明和類似設(shè)備的電磁兼容性。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓跌落和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)的要求和試驗(yàn)方法。

在進(jìn)行DIP測(cè)試時(shí),需要根據(jù)以上標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法和驗(yàn)收準(zhǔn)則對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試設(shè)備應(yīng)具備相應(yīng)測(cè)試能力,如電壓跌落發(fā)生器、示波器等。通過(guò)DIP測(cè)試的產(chǎn)品表明其在電壓波動(dòng)環(huán)境下具有較好的抗干擾性能。

三、試驗(yàn)條件

電壓等級(jí):試驗(yàn)電壓等級(jí)通常根據(jù)設(shè)備的額定輸入電壓和市場(chǎng)需求進(jìn)行設(shè)定。常見的電壓等級(jí)包括額定電壓的0%(即完全斷電)和*高及*低額定電壓的70%等。

持續(xù)時(shí)間:電壓跌落的持續(xù)時(shí)間也是試驗(yàn)的重要參數(shù)之一。持續(xù)時(shí)間的長(zhǎng)短取決于設(shè)備的特性和市場(chǎng)需求。一般來(lái)說(shuō),持續(xù)時(shí)間可以從幾毫秒到幾秒不等。

跌落深度:跌落深度是指電壓跌落到額定電壓以下的部分。跌落深度的大小直接影響設(shè)備對(duì)電壓跌落的抵抗能力。

四、試驗(yàn)方法

電壓跌落試驗(yàn)通常使用專門的測(cè)試設(shè)備,如抽頭自耦變壓器和抗擾度測(cè)試系統(tǒng)等。試驗(yàn)過(guò)程中,測(cè)試設(shè)備會(huì)模擬不同長(zhǎng)度和嚴(yán)重性的電壓跌落情況,并記錄設(shè)備的響應(yīng)情況。

五、試驗(yàn)等級(jí)

IEC 61000-4-11標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度測(cè)試方法和等級(jí)范圍。? 該標(biāo)準(zhǔn)適用于額定輸入電流每相不超過(guò)16A、連接到50Hz/60Hz交流電網(wǎng)的電氣和電子設(shè)備?12。

根據(jù)IEC 61000-4-11標(biāo)準(zhǔn),電壓暫降的測(cè)試等級(jí)以%UT(暫降后剩余電壓為參考電壓的百分比)表示,常見的測(cè)試等級(jí)包括0%、40%、70%、80%等。短時(shí)中斷一般指電源完全中斷達(dá)250個(gè)周期(50Hz)或300個(gè)周期(60Hz)。電壓變化通常指突變到70%后維持一個(gè)周期,再經(jīng)過(guò)25/30個(gè)周期后恢復(fù)到參考電壓的情況?24。

IEC 61000-4-11標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試等級(jí)范圍包括但不限于以下幾種情況:

電壓暫降?:測(cè)試電壓在短時(shí)間內(nèi)下降,常見的測(cè)試等級(jí)有0%、40%、70%、80%等?。

短時(shí)中斷?:電源完全中斷一段時(shí)間,通常為250個(gè)周期(50Hz)或300個(gè)周期(60Hz)?。

電壓變化?:電壓在短時(shí)間內(nèi)變化,例如突變到70%后維持一個(gè)周期,再恢復(fù)到參考電壓?。

這些測(cè)試等級(jí)的范圍和具體要求旨在評(píng)估電氣和電子設(shè)備在電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化情況下的抗擾度性能?。

五、性能評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)

性能評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)通常包括設(shè)備在電壓跌落過(guò)程中的穩(wěn)定性、恢復(fù)能力、故障率等指標(biāo)。具體來(lái)說(shuō):

穩(wěn)定性:設(shè)備在電壓跌落過(guò)程中應(yīng)能夠保持穩(wěn)定工作,不出現(xiàn)異?,F(xiàn)象或故障。

恢復(fù)能力:電壓恢復(fù)后,設(shè)備應(yīng)能夠迅速恢復(fù)正常工作狀態(tài),且性能不受影響。

故障率:在電壓跌落試驗(yàn)中,設(shè)備的故障率應(yīng)低于一定的閾值,以確保產(chǎn)品的可靠性和**性。

六、試驗(yàn)意義與應(yīng)用

意義:電壓跌落試驗(yàn)是評(píng)估設(shè)備在電源電壓突然下降時(shí)的性能穩(wěn)定性的重要手段。通過(guò)該試驗(yàn),可以了解設(shè)備對(duì)電源電壓變化的適應(yīng)性和穩(wěn)定性,為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供重要參考。

應(yīng)用:電壓跌落試驗(yàn)廣泛應(yīng)用于各類電氣和電子設(shè)備的生產(chǎn)和研發(fā)過(guò)程中。通過(guò)該試驗(yàn),可以確保設(shè)備在電源電壓跌落時(shí)能夠正常工作或至少不會(huì)受到嚴(yán)重?fù)p害,從而提高產(chǎn)品的可靠性和**性。

綜上所述,電壓跌落試驗(yàn)(DIP)是電磁兼容性測(cè)試中的一項(xiàng)重要內(nèi)容。通過(guò)該試驗(yàn),可以評(píng)估設(shè)備在電源電壓突然下降時(shí)的性能穩(wěn)定性和適應(yīng)性,為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供重要參考。同時(shí),該試驗(yàn)也是確保產(chǎn)品可靠性和**性的重要手段之一。


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