深圳市京都玉崎電子有限公司

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LE-200J電磁膜厚計，日本凱特KETT膜厚計

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簡單介紹

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的詳細介紹

LE-200J電磁膜厚計，日本凱特KETT膜厚計
ポータブルタイプのプリンタ內(nèi)蔵型膜厚計です。磁性金屬上に施されたメッキ（電解ニッケルメッキは除く）?塗裝?ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定。さらに、測定結(jié)果をその場でプリントアウトできます。

●仕様	LE-200J
測定方式	電磁誘導式
測定対象	磁性金屬上の非磁性被膜
測定範囲	0～1500μmまたは60.00mils
測定精度	15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm
適合規(guī)格	JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統(tǒng)計機能	測定回數(shù)?平均値?標準偏差?大値?小値?ブロック番號
プローブ	一點接觸定圧式（LEP-J）
表示方法	デジタル（LCD、表示*小桁0.1μm）
外部出力	RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
電源	AC100V（50/60Hz）または電池1.5V（単3アルカリ）本體部×6、プリンタ部×4
寸法?質(zhì)量	120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
付屬品	標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション	L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」