Labthink蘭光CHY-C2型高精度測(cè)厚儀技術(shù)資料CHY-C2測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度**測(cè)量。了解詳情請(qǐng)致電:濟(jì)南蘭光0531-85068566或登錄官網(wǎng)www.labthink.cn查詢 CHY-C2測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)測(cè)量范圍:0~2mm(常規(guī))0~6mm;12mm(可選)分 辨 率:0.1μm測(cè)量速度:10次/min(可調(diào))測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張)注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制電 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)凈 重:33kgCHY-C2測(cè)厚儀標(biāo) 準(zhǔn)GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI
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