四探針電阻率檢測儀 FT-340
產(chǎn)品簡介
四探針電阻率檢測儀,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復設置。四探針電阻率檢測儀
產(chǎn)品詳細信息
四探針電阻率檢測儀
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。
四探針電阻率檢測儀
液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運輸**、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
四探針電阻率檢測儀
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高**度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
四探針電阻率檢測儀
規(guī)格型號
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FT-341
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FT-342
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FT-343
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FT-345
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FT-346
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FT-347
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1.方塊電阻范圍
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10-4~2×105Ω/□
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10-4~2×103Ω/□
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10-3~2×105Ω/□
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10-3~2×103Ω/□
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10-2~2×105Ω/□
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10-2~2×103Ω/□
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2.電阻率范圍
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10-5~2×106Ω-cm
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10-5~2×104-cm
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10-4~2×106Ω-cm
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10-4~2×104-cm
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10-3~2×106Ω-cm
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10-3~2×106Ω-cm
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3.測試電流范圍
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0.1μA,μA,0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
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0.1μA,μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
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0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
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1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
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4.電流精度
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±0.1%讀數(shù)
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±0.2%讀數(shù)
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±0.2%讀數(shù)
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±0.3%讀數(shù)
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±0.3%讀數(shù)
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±0.3%讀數(shù)
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5.電阻精度
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6.顯示讀數(shù)
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大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
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7.測試方式
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雙電測量
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8.工作電源
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輸入耗:(標準樣片結(jié)果)
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10.選購功能
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選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺
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四探針電阻率檢測儀
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