近紅外熒光光譜儀 NanoLog
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
法國Jobin Yvon NanoLog型近紅外熒光光譜儀專門為納米技術(shù)和納米材料前沿研究設(shè)計(jì)的,可以提供紅外熒光快速測(cè)量系統(tǒng)。其模塊化的配置和功能滿足您專一的和**的要求。標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器配置為800nm-1700nm的CCD,也可通過選取配置延伸至2200nm的紅外區(qū)和紫外、近紅外區(qū)。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
法國Jobin Yvon NanoLog型近紅外熒光光譜儀專門為納米技術(shù)和納米材料前沿研究設(shè)計(jì)的,可以提供紅外熒光快速測(cè)量系統(tǒng)。其模塊化的配置和功能滿足您專一的和**的要求。標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器配置為800nm-1700nm的CCD,也可通過選取配置延伸至2200nm的紅外區(qū)和紫外、近紅外區(qū)。
儀器主要特點(diǎn):
1、隨機(jī)配置的可更新單壁碳納米管數(shù)據(jù)庫提供半導(dǎo)體型SWCNTs的分類。
2、**的表面三維數(shù)據(jù)擬合技術(shù),提供樣品中單壁碳納米管的分類和含量比例;*新添加的可選Raman-NanoLog方案,可以在熒光測(cè)量同時(shí)獲得Raman信息。
3、可選的透射吸收附件,可用于吸光度測(cè)量,同時(shí)用于再吸收的校正。包括金屬型的SWCNT。
4、知名的NanoSizerTM軟件作為標(biāo)準(zhǔn)配置;
● PL mapping Characterization of SWCNTs
● Raman Characterization of SWCNTs
● Optical Absorption of SWCNTs
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
- 會(huì)員等級(jí): 免費(fèi)會(huì)員
- 注冊(cè)時(shí)間: 2010-12-21
- 聯(lián) 系 人:
- 聯(lián)系電話:
- 傳真號(hào)碼:
- * 請(qǐng)告知從易展網(wǎng)看到產(chǎn)品,可獲得優(yōu)惠
- 查看聯(lián)系方式 進(jìn)入產(chǎn)品頁面