Felles X射線薄膜衍射儀與其它采用“機(jī)械掃描測角儀器”的X射線衍射儀不同，F(xiàn)elles X射線薄膜衍射儀采用獨(dú)特的具有**技術(shù)的曲線弧型探測器代替?zhèn)鹘y(tǒng)的機(jī)械掃描測角儀器，從而實(shí)現(xiàn)以超高分辨率超高速度實(shí)時(shí)完成2theta的測量。

Felles X射線薄膜衍射儀與其它采用“機(jī)械掃描測角儀器”的X射線衍射儀不同，F(xiàn)elles X射線薄膜衍射儀采用獨(dú)特的具有**技術(shù)的曲線弧型探測器代替?zhèn)鹘y(tǒng)的機(jī)械掃描測角儀器，從而實(shí)現(xiàn)以超高分辨率超高速度實(shí)時(shí)完成2theta的測量。

Felles X射線薄膜衍射儀特點(diǎn)

具有X射線衍射，材料紋理組織, 材料質(zhì)地,薄膜，單晶，薄膜應(yīng)力測量，外延，反射，掠入射等多用途多功能**X射線衍射儀，

是多用途多功能X射線衍射儀中的翹楚，

具有多種樣品測量模式和多用戶分析技術(shù)，

使用*新的垂直安裝的弧型X-eye高靈敏度探測器，

以低于2毫秒的速度測量整個(gè)2 theta的全部衍射類型，

具有的實(shí)時(shí)測量功能使得它非常適合所有類型的動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)以及快速傳統(tǒng)的X射線衍射研究，

國**的進(jìn)口X射線衍射儀旗艦型服務(wù)商！

Web: www.felles.cn                    （激光光學(xué)精密儀器網(wǎng)）
          www.f-lab.cn                       （分析測試實(shí)驗(yàn)儀器網(wǎng)）

http://www.f-lab.cn/analytical-instruments.html

http://www.f-lab.cn/particle-analyzers.html

Felles X射線薄膜衍射儀特色

作為**衍射儀，適合所有類型的反射測量，

所配備的高精度Eulerian cradle可用于質(zhì)地（texture)和極圖（pole figure)的實(shí)時(shí)測量。

提供寬廣的角范圍phi旋轉(zhuǎn)，

可加多軸位移臺(tái)用于薄層測量。使用500mm曲率半徑的實(shí)時(shí)弧形探測器，非常適合如下研究：

薄層分析，反射，微衍射，omega掃描殘余應(yīng)力分析，質(zhì)地&極圖測量等應(yīng)用?？蓽y的樣品尺寸小到20微米。
具有豐富的樣品安裝配件，包括sample spinner, auto sampler, humidity chamber, variable temperature mounts, furnace, think film accessories, stress attachements, WAXS wide angle scattering options等等。


X射線薄膜衍射儀 產(chǎn)品特色
* 適合**科研應(yīng)用
*不需要日常維護(hù)，超長保質(zhì)期，超低使用成本。
* 操作簡單，非常可靠，無比精密
* 取消了機(jī)械掃描式的測角儀器，使用高靈敏度弧型X射線探測器
* 超高速度：2毫秒可測量2 theta；
* 超大樣品室，大型**防護(hù)裝置
* 實(shí)時(shí)測量實(shí)時(shí)分析結(jié)果；

* 超高分辨率：0.05FWHM;

Felles X射線薄膜衍射儀概述

操作情況：
不需要任何使用經(jīng)驗(yàn)的工程師也可快速使用，非?？煽浚恍枰粘＞S護(hù)，高速高分辨率高**性測量。
使用成本：
由于使用高靈敏度弧型X射線探測器替代了昂貴的測角儀，整套系統(tǒng)的價(jià)格更低，使用成本更低。
先進(jìn)的Equinox技術(shù)：
與其它X射線薄膜衍射儀相比，測量速度更快，它可以同時(shí)測量所有衍射峰，完成一次對多個(gè)樣品全分辨率的測量僅需要幾秒時(shí)間，不需要等待。
超大樣品室：
由于替代了測角儀，以較小尺寸提供超大樣品室，可以容納更為廣泛的樣品操作附件，包括8位自動(dòng)采樣器，可以自動(dòng)分析樣品而不需要操作人員。
微樣品尺寸：
可以測量任何尺寸的樣品，而其他的一般完成分析測量的樣品*大不超過2.0mm. 100微米的樣品可直接分析而不需要額外的微X射線源。

高通量多層鏡：
不使用旋轉(zhuǎn)的陰極X-ray源用于高速衍射測量，而是使用獨(dú)特的鏡面技術(shù)提供X20增強(qiáng)型X射線能量密度，效果等同于旋轉(zhuǎn)的X-ray源，但是在可靠性上大大提高，采集速度大大加快，價(jià)格降低。

X射線**性：
對樣品的尺寸無要求，因此X射線**性顯著提高，傳統(tǒng)的薄膜應(yīng)力X射線衍射儀對樣品尺寸存在要求，因此需要厚厚的**防護(hù)裝置和X射線窗口，但是整體的**性依然得不到嚴(yán)格保證。

新型高通量X射線源備選：
我們研發(fā)了新型的高通量60KV空氣制冷的X-ray源，具有超高X-ray強(qiáng)度但不需要水冷。這個(gè)50W功率的X-ray源可提供與傳統(tǒng)的2500W X射線管相媲美的強(qiáng)度。

不再需要水冷
該薄膜X射線衍射儀使用高通量空氣質(zhì)量的X射線管，不需要水冷。

超低電力消耗
這款X射線薄膜應(yīng)力衍射儀僅僅需要100W的功率消耗，而普通至少是2KW。

透射和反射測量
透射和反射可同時(shí)測量，可以X射線幾何線測量

薄膜測量
Equinox實(shí)時(shí)薄膜附件可用于高分辨率薄膜測量。

拉曼測量
這款薄膜X射線衍射儀提供超大的樣品室空間，我們的拉曼探針可以直接安裝到樣品室內(nèi)，可對樣品進(jìn)行分子級(jí)別的分析。拉曼探針也可從樣品室中移除。

EDXRF功能
可選配EDXRF光譜儀植入X-射線衍射儀樣品室內(nèi)，也可作為單獨(dú)的一個(gè)儀器使用。

30位自動(dòng)采樣器 可是滿足30個(gè)樣品自動(dòng)測量

單晶/粉末衍射功能：這套X射線衍射系統(tǒng)還可添加附件，實(shí)現(xiàn)對粉末,單晶的X射衍射測量。

礦產(chǎn)和冶金特殊應(yīng)用： 該薄膜應(yīng)力X射線衍射系統(tǒng)特別為地質(zhì)礦產(chǎn)和冶金等應(yīng)用而設(shè)計(jì)。它**的性能和操作的方便性非常適合材料科學(xué)的研究。

Felles X射線薄膜衍射儀技術(shù)參數(shù)：
分辨率： 0.05度 FWHM
探測器曲率半徑：500mm
2 theta：90度
角范圍：180度，2 theta
X射線高壓電源： 60KV/3KW電源
水源要求：循環(huán)水3.5L/min
重量： 280Kg

可選附件：
拉曼探針，X射線熒光附件，樣品操作附件，X射線管Cu,W,Co, Mo, 單晶安裝架，自動(dòng)采樣器等。