ARL QUANTX EDXRF X射線熒光能譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，ARL QUANT'X X射線熒光能譜儀(EDXRF)打破了1納米的檢測(cè)限瓶頸。ARL QUANTX EDXRF 能譜儀的功能和靈活性可*大程度提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。

ARL QUANT'X X射線熒光能譜儀(EDXRF)
aRL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測(cè)限瓶頸。
專為滿足實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中**挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計(jì)，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可*大程度提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。
ARL QUANT'X X射線熒光能譜儀產(chǎn)品概述：
 能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過(guò)簡(jiǎn)易的樣品制備，實(shí)現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。
     ARL QUANT'X X射線熒光能譜儀先進(jìn)的技術(shù)
• 獨(dú)特的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測(cè)器
• 數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)
• 高性能、多元素分析 
     ARL QUANT'X X射線熒光能譜儀主要功能 特點(diǎn)
• 出色的痕量分析靈敏度
• 高分析量的進(jìn)程控制
• 適用于異常材料的**分析算法
• 出色的樣品處理靈活性
• 機(jī)械簡(jiǎn)化和靈活性
• 占地面積小、易于運(yùn)輸以進(jìn)行野外測(cè)量
• 快速、簡(jiǎn)易的安裝以及可完全現(xiàn)場(chǎng)定制
• 隨附完整的實(shí)驗(yàn)室啟用套件
• 經(jīng)驗(yàn)證的硬件和全套軟件
• 現(xiàn)場(chǎng)、協(xié)同方法開(kāi)發(fā)
• 完整的技術(shù)應(yīng)用支持
• 匯集了數(shù)百種應(yīng)用的專業(yè)知識(shí)
•  功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace*軟件
• 無(wú)標(biāo)和半無(wú)標(biāo)分析
• 基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法
• 多層厚度及成分
• 不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣
• 利用自動(dòng)化操作實(shí)現(xiàn)多個(gè)激發(fā)條件
可ARL QUANT'X X射線熒光能譜儀用于：
• 懸浮顆粒物過(guò)濾器
• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
• 法醫(yī)及痕量分析
• 營(yíng)養(yǎng)補(bǔ)充劑
• 磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體
• 土壤污染
• 過(guò)濾器上的薄膜
• 塑料中的有毒元素