操作模擬耐久試驗機 GB-C
產(chǎn)品簡介
操作模擬耐久試驗機可模擬 Notebook 、手機、 PDA 各種動作之操作,以了解產(chǎn)品在多次使用后,各種零件的耐久狀況。由計算機設定測試動作,可隨時更改或儲存,并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作,一臺計算機同時控制數(shù)臺機器
產(chǎn)品詳細信息
操作模擬耐久試驗機可模擬 Notebook 、手機、 PDA 各種動作之操作,以了解產(chǎn)品在多次使用后,各種零件的耐久狀況。由計算機設定測試動作,可隨時更改或儲存,并可同時執(zhí)行數(shù)個測試動作,一臺計算機同時控制數(shù)臺機器
Notebook 測試規(guī)格 :
磁盤片插入、退出試驗。
光驅插入、退出試驗。
PCMCIA 插入、退出試驗。
電池插入、退出試驗。
各種接頭插入、退出試驗。 (PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等 )
桌面放落試驗
手機測試規(guī)格 :
天線上、下抽取試驗。
天線彎曲試驗。
電池插入、拔出試驗。
連接器插入、拔出壽命試驗。
ON 、 OFF 開關機壽命試驗。
上蓋打開、關閉壽命試驗。
短距離落下壽命試驗。
SIM 卡插入、拔出壽命試驗
PDA 測試規(guī)格 :
CF 卡插拔耐久試驗。
Battery 蓋插、拔耐久試驗。
DC 插頭耐久試驗。
連接器插、拔耐久試驗。
筆插拔耐久試驗。
觸控屏幕摩擦耐久試驗。
ON 、 OFF 開關機耐久試驗
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- 注冊時間: 2007-04-23
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