S4 TStar — TXRF
產(chǎn)品簡介
離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質(zhì)譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法°現(xiàn)在,S4TStar在臺式TXRF光譜儀的性能、自控和質(zhì)量 方面開創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)十年來,X射線熒光(XRF)光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析,檢測限值低于PPb量級。TXRF 擴(kuò)展ZXRF的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF成為原子吸收光譜法(AAS)以及電感耦合等.
產(chǎn)品詳細(xì)信息
通用性好、可用性強(qiáng)
功能靈活,適用于多種反射性樣品載體
元素范圍
Mo靶:鋁到鈾(Nb-Ru除外) W靶:鉀到鈾
濃度
ppb 到 100%
檢測限值
Ni< 1 pg
樣品類型
液體、懸浮液、粉末、顆粒物、金屬、薄層、組織、晶片、 濾片等
樣品量
液體和懸浮液,從1微升到50微升
顆粒物,直徑100微米以下;粉末,10微克以下
樣品更換器
自動樣品更換器,10個(gè)托盤 自動托盤檢測,用于鑒別樣品類型
容量
樣品托盤1: 30毫米盤片,*多90個(gè)盤片
樣品托盤2:顯微鏡載玻片,*多30個(gè)載玻片
樣品托盤3: 2英寸晶片,*多50個(gè)晶片
樣品托盤4:矩形,小于54毫米,*多50個(gè)樣品 樣品托盤5:用戶定義
X射線管
*高50W,金屬陶瓷,*高50 Kv, 1mA,空氣冷卻
X射線光學(xué)件
多層膜單色儀
激發(fā)模式
Mo-K, 17.5 Kev
W■可致輻射,35 Kev; W-L, 8.4 Kev
Cu-K, 8.0 Kev
Cr-K, 5.4 Kev
檢測器
珀?duì)柼鋮sXFIash®硅漂移檢測器
不需要液氮
探測器有效面積:60 mm2,選配:100 mn?
能量分辨率<149ev (在1 OOKcps (錠Ka),)
接口
通過TCP/IP進(jìn)行數(shù)據(jù)交換(RJ45電纜)
電源
100/240 V, 50/60 HZ
尺寸
528mmx693mmx512mm (高x寬x深)
重量
80 Kg
附件
清洗盒,用于樣品載體、存放盒
TXRF起動器套件(移液管、尖頭、試管、研缽、藥匙)
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
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