X射線晶體分析儀JF-2000 JF-2000
產(chǎn)品簡介
X射線晶體分析儀主要用于研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)。如:單晶定向、檢驗(yàn)缺陷、物質(zhì)定性、測定點(diǎn)陣參數(shù)、測定殘余應(yīng)力等。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
X射線晶體分析儀JF-2000技術(shù)參數(shù):
1. 管電壓:10~60KV由單片機(jī)自動(dòng)控制(1KV/step)
2.管電流:5~80mA由單片機(jī)自動(dòng)控制(1mA/step)
3.管電壓、管電流穩(wěn)定度≤0.3‰
4.額定輸出功率:3KW
5.有無壓、無流、過壓、過流、過功率、無水、X光管超溫保護(hù)
X射線晶體分析儀特點(diǎn):
1.冷卻裝置:自帶制冷系統(tǒng),無需外接水循環(huán),并自動(dòng)控制水溫及顯示X光管溫度。
2.外射線計(jì)量不大于2.5μSv/h
3.X光管:額定功率2KW(銅靶)
4.定時(shí):單片機(jī)自動(dòng)定時(shí),定時(shí)時(shí)間任意選擇
其他產(chǎn)品
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
- 會(huì)員等級(jí): 免費(fèi)會(huì)員
- 注冊時(shí)間: 2008-06-30
- 聯(lián) 系 人:
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