技術參數(shù)

主要特點

*新ADD能譜技術，結合Si(Li)探頭的分析性能和SDD探頭的高速度。
免維護設計，無需添加液氮。
“導航器”設計，界面友好，為業(yè)內所公認。                                                             
Inca平臺可將能譜-波譜-EBSD三種顯微分析工具集成在一起，方便用戶升級。
**的軟、硬件結合，功能之強大****。
專業(yè)的售后服務，用戶無后顧之憂。

儀器介紹

詳情請見：
www.oichina.cn (中文網(wǎng)站）
www.x-raymicroanalysis.com（X射線顯微分析網(wǎng)站）
www.EBSD.com （電子背散射衍射技術網(wǎng)站）
www.oxford-instruments.com （英文網(wǎng)站）
www.hkltechnology.com（電子背散射衍射技術網(wǎng)站）
ebsd-cs@oichina.cn （電子背散射衍射儀在線支持）

歡迎到上海演示實驗室參觀!

分析方法

此儀器尚未上傳分析方法

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