Q2全譜直讀光譜儀

儀器簡介
Bruker全新設(shè)計(jì)的新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的體驗(yàn)。Q2 ION是現(xiàn)今市場上輕巧的高Q2全譜直讀光譜儀性能直讀光譜儀。源自新的設(shè)計(jì)理念，緊湊的體積和強(qiáng)大的分析功能得以恰好地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業(yè)中的來料檢驗(yàn)及質(zhì)量控制，同時，儀器的價格定位及較低的運(yùn)行成本無疑使其在眾多中小企業(yè)中備受青睞。
Q2在許多應(yīng)用，例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素，能夠很好地滿足中小鑄造企業(yè)，金屬加工企業(yè)，質(zhì)量管理部門，原料堆放倉庫，金屬回收企業(yè)，甚至檢測機(jī)構(gòu)的分析要求。
主要特點(diǎn)
獨(dú)特的設(shè)計(jì)使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進(jìn)行現(xiàn)場分析工作。除此之外，儀器還有專用配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運(yùn)輸。
Q2 ION采用了全新技術(shù)—平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng)，該技術(shù)使得Q2 ION的設(shè)計(jì)突破了傳統(tǒng)光譜的桎梏。光學(xué)系統(tǒng)所配備的動態(tài)溫度補(bǔ)償技術(shù)（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有集其優(yōu)良的穩(wěn)定性。

技術(shù)參數(shù)
光學(xué)系統(tǒng)
非渡膜CCD檢測器，具有低的暗電流
平面光柵
波長覆蓋范圍：170-685nm
分辨率：30pm
氬氣驅(qū)氣以確保剛好光通量。
譜圖解析技術(shù)
動態(tài)溫度補(bǔ)償技術(shù)，確保在10至45度的外界溫度下具有相當(dāng)?shù)姆€(wěn)定性
分析方法組件
可應(yīng)用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類型
適應(yīng)未來升級需要
激發(fā)源
免維護(hù)，兩相PWM激發(fā)源
頻率50-1000Hz
火花臺
免維護(hù)
檢測期間氬氣消耗2.5L/min
軟件
給予Windows的操作軟件
用戶分級權(quán)限
定性及定量分析
操作軟件含分析數(shù)據(jù)庫及辦公軟件接口
牌號庫功能
電源
100-240V(50/60Hz)
檢測期間200W，待機(jī)時50W
16A慢融保險絲或25A慢融保險絲
尺寸
長×寬×高：440mm×190mm×220mm
重量：19Kg