LCR測(cè)試儀的功能與正確的使用方法？
用LCR測(cè)試儀來(lái)測(cè)量零部件的參數(shù)時(shí)，其關(guān)鍵問(wèn)題在于測(cè)量誤差。首先是LCR測(cè)試儀本身的內(nèi)部誤差，還存在各種各樣的原因，而與試樣的連接所引起的誤差，就是其中之一。由于LCR測(cè)試儀的型號(hào)不同，可能的連接方法也會(huì)有區(qū)別，在此我們整理一下五種連接方法的各自特點(diǎn)。一般來(lái)說(shuō)，連接方法越麻煩，越能準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)量。
數(shù)字電橋的的來(lái)歷：
數(shù)字電橋(卷名：電工)digitalbridge采用數(shù)字技術(shù)測(cè)量阻抗參數(shù)的電橋。數(shù)字技術(shù)是將傳統(tǒng)的模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，再進(jìn)行數(shù)字運(yùn)算、傳遞和處理等。1972年，國(guó)際上**出現(xiàn)帶微處理器的數(shù)字電容電橋，它將模擬電路、數(shù)字電路與計(jì)算機(jī)技術(shù)結(jié)合在一起，為阻抗測(cè)量?jī)x器開(kāi)辟了一條新路。
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