使用塊規(guī)時(shí)注意事項(xiàng)
1. 根據(jù)被測(cè)物尺寸決定使用某個(gè)塊規(guī)時(shí)，需注意以下幾點(diǎn)：
①盡量使用較少的塊規(guī)數(shù)量來(lái)達(dá)到所需的尺寸。
②盡可能使用尺寸較大的塊規(guī)。
③若需用到多個(gè)塊規(guī)時(shí)，請(qǐng)先選擇次要的數(shù)值，再選主要數(shù)值。
2. 在開(kāi)始檢測(cè)前請(qǐng)使用適合的工具來(lái)作清潔
①使用柔軟、干凈的無(wú)塵布輕輕擦拭塊規(guī)表面
②如塊規(guī)表面**難于去除的漬印，可用無(wú)塵布加酒精進(jìn)行擦拭（適用于陶瓷塊規(guī)）
③如遇到塊規(guī)表面有銹漬，可用無(wú)塵布加儀器防銹油進(jìn)行擦拭（適用于鋼/鐵質(zhì)塊規(guī)）
3. 檢查塊規(guī)是否有毛屑（可使用光學(xué)平晶進(jìn)行檢查，步驟如下：）
①清潔量測(cè)面。
②使光學(xué)平晶與量測(cè)面輕輕接觸。
③再量測(cè)面上緩緩滑動(dòng)，使光學(xué)干涉條紋顯示出來(lái)。
※檢查：假如未出現(xiàn)干涉條紋，則量測(cè)面上會(huì)有毛屑或灰塵。
④在量測(cè)面上輕壓光學(xué)平板，干涉條紋即消失
※若干涉條紋消失，量測(cè)面則無(wú)毛屑。
※若干涉條紋尚在，緩緩滑動(dòng)光學(xué)平板；若干涉條紋始終在量測(cè)面的同一位置，則量測(cè)面上有毛屑；若干涉條紋始終在光學(xué)平板的同一位置，則平板上有毛屑。
※若干涉條紋尚在，緩緩滑動(dòng)光學(xué)平板；若干涉條紋始終在量測(cè)面的同一位置，則量測(cè)面上有毛屑；若干涉條紋始終在光學(xué)平板的同一位置，則平板上有毛屑。
⑤除去毛屑
4. 除去毛悄后，可使用少量油均勻散布于整個(gè)量測(cè)面，再擦干油跡。
5. 根據(jù)使用的尺寸，按照以下的方法使兩量測(cè)面接觸，并成為一體。
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
