三座標(biāo)測(cè)頭的發(fā)展趨勢(shì)
從整體上考察,近年來無論哪類精密測(cè)頭主要向著精度更高、尺寸更小、互換性更好、綜合功能更強(qiáng)、數(shù)字化的方向發(fā)展.
目前的掃描式測(cè)頭,因結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積大、價(jià)格昂貴,影響了其普及應(yīng)用.掃描式測(cè)頭的發(fā)展方向就是在不影響其精度和掃描速度的同時(shí),研制結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低的新型、高精度掃描式測(cè)頭.另外,具有較大量程、能伸入小孔、用于測(cè)量微型零件的測(cè)頭也在發(fā)展.特別指出,具有納米分辯率的微測(cè)頭是一個(gè)重要研究方向.而采用光柵傳感器的數(shù)字化精密測(cè)頭是掃描式測(cè)頭的普遍發(fā)展趨勢(shì),其*終發(fā)展結(jié)果將出現(xiàn)智能化精密測(cè)頭.
由于觸發(fā)式測(cè)頭成本低、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,并能滿足常用的測(cè)量要求,在一定時(shí)期內(nèi)仍是市場(chǎng)上應(yīng)用*多的測(cè)頭,其發(fā)展方向是尺寸小、集成度高、精度高、各向異性小.目前,Renishaw公司占據(jù)了該類測(cè)頭全世界90％的市場(chǎng),在近期內(nèi)這種狀況還不會(huì)改變.
掃描測(cè)量方式雖然比點(diǎn)位測(cè)量方式效率高,但仍然受到觸測(cè)的限制.非接觸式測(cè)頭無需接觸,在運(yùn)動(dòng)中采樣測(cè)量,可避免精密量?jī)x的頻繁加速、減速、碰撞等,從而大大提高了測(cè)量效率;又因?yàn)榉墙佑|式測(cè)頭的測(cè)量力為零,可以測(cè)量各種柔軟、易于劃傷的工件;另外,可以形成很小光斑,對(duì)一些接觸測(cè)端不易伸入的部件進(jìn)行測(cè)量,或?qū)σ恍┘?xì)節(jié)進(jìn)行測(cè)量,并且有很大的測(cè)量范圍;因此,精密測(cè)頭的應(yīng)用趨勢(shì)就是非接觸式測(cè)頭將得到越來越廣泛的應(yīng)用.
由于觸發(fā)式測(cè)頭成本低、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,并能滿足常用的測(cè)量要求,在一定時(shí)期內(nèi)仍是市場(chǎng)上應(yīng)用*多的測(cè)頭,其發(fā)展方向是尺寸小、集成度高、精度高、各向異性小.目前,Renishaw公司占據(jù)了該類測(cè)頭全世界90％的市場(chǎng),在近期內(nèi)這種狀況還不會(huì)改變.
掃描測(cè)量方式雖然比點(diǎn)位測(cè)量方式效率高,但仍然受到觸測(cè)的限制.非接觸式測(cè)頭無需接觸,在運(yùn)動(dòng)中采樣測(cè)量,可避免精密量?jī)x的頻繁加速、減速、碰撞等,從而大大提高了測(cè)量效率;又因?yàn)榉墙佑|式測(cè)頭的測(cè)量力為零,可以測(cè)量各種柔軟、易于劃傷的工件;另外,可以形成很小光斑,對(duì)一些接觸測(cè)端不易伸入的部件進(jìn)行測(cè)量,或?qū)σ恍┘?xì)節(jié)進(jìn)行測(cè)量,并且有很大的測(cè)量范圍;因此,精密測(cè)頭的應(yīng)用趨勢(shì)就是非接觸式測(cè)頭將得到越來越廣泛的應(yīng)用.
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
