原子光譜法包括發(fā)射光譜法（AES），吸收光譜法（AAS）和熒光光譜法；可以進(jìn)行定性和定量分析，分析速度快，檢出限低，選擇性好。常用于分析銣、銫等堿金屬和鎵、銦、鉈等稀散金屬，也可以分析半金屬，但靈敏度較低。發(fā)射光譜法的精度主要受光源影響，常見(jiàn)的直讀光譜儀以火花或者電弧作為激勵(lì)源，可以對(duì)鐵基、銅基、鈦基、鎂基等不同合金成分分析，具有多元素同時(shí)檢測(cè)的能力，應(yīng)用在廣泛應(yīng)用在冶金、鑄造、金屬加工、機(jī)械制造等領(lǐng)域。**的儀器使用等離子體電感耦合（ICP）光源，可以產(chǎn)生10000K高溫，具有極高的靈敏度和檢出限，多用于非金屬元素分析和痕量范圍的定量分析。吸收光譜儀和熒光光度法主要精度受原子化器影響，主要有火焰原子化器和石墨爐原子化器。其中以火焰原子化器重現(xiàn)性好，而石墨爐原子化器的檢出限更低。吸收光譜法對(duì)元素的選擇性好，譜線干擾少。
X射線熒光法是種重要的無(wú)損分析方法，可用于動(dòng)態(tài)過(guò)程的分析。其再現(xiàn)性好，散射線本底強(qiáng)度小，分析靈敏度高。跟原子光譜法相比，X射線熒光法受基體的影響更大，可以為表面和微區(qū)分析，分析輕元素時(shí)受散射和熒光效率的影響檢出限會(huì)提高。根據(jù)分光原理的不同，X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種。前者主要用于實(shí)驗(yàn)室定量分析。后者無(wú)需分光系統(tǒng)，檢測(cè)器可以緊挨樣品進(jìn)行原位分析，不存在高次衍射譜線干擾；可以一次同時(shí)測(cè)定絕大部分金屬元素含量，非常便于現(xiàn)場(chǎng)做定性判斷。隨著X射線管制備技術(shù)，半導(dǎo)體探測(cè)技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的改進(jìn)，便攜式X射線光譜儀在合金材料鑒別、廢舊金屬回收、礦石勘探、品位控制、珠寶鑒別、環(huán)境和土壤中重金屬檢測(cè)等領(lǐng)域都有極廣泛應(yīng)用。
掃描隧道顯微法可以對(duì)物質(zhì)本面進(jìn)行原子級(jí)別的分辨，通常還配合電子束探針，進(jìn)行光電子能譜和俄歇電子能譜分析，可以對(duì)表面電子分布和能級(jí)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，多用于特殊合金的表面相和催化過(guò)程的研究。原子質(zhì)譜法的光源和發(fā)射光譜法相同，不僅可以用于超痕量分析，還可以進(jìn)行同位素測(cè)量，具有*高的靈敏度和*低的檢出限。熱重分析可以對(duì)易分解組分和灰分含量進(jìn)行測(cè)定，也用于研究高溫下物理化學(xué)反應(yīng)過(guò)程。
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
