**代:點(diǎn)測量 ——適合做物體表面誤差檢測
代表系統(tǒng)有:三坐標(biāo)測量儀;點(diǎn)激光測量儀;關(guān)節(jié)臂掃描儀(精度不高)。通過每一次的測量點(diǎn)反映物體表面特征,優(yōu)點(diǎn)是精度高,但速度慢,如果要做逆向工程,只能在測量較規(guī)則物體上有優(yōu)勢。
**代:線測量——適合掃描中小件物體,掃描景深小(一般只有5公分),精度較低,此系統(tǒng)是過渡性產(chǎn)品。
代表系統(tǒng)有:三維激光掃描儀,三維手持式激光掃描儀,關(guān)節(jié)臂+激光掃描頭。通過一段(一般為幾公分,激光線過長會發(fā)散)有效的激光線照射物體表面,再通過傳感器得到物體表面數(shù)據(jù)信息。
第三代:面掃描——適合大中小物體的掃描,精度較低,掃描速度極快(單面400×300mm 面積,時間≤5秒),測量景深很大,一般為300-500mm,甚至更大。
代表系統(tǒng): 三維掃描儀 (結(jié)構(gòu)光、光柵式掃描儀),三維攝影測量系統(tǒng)等。通過一組(一面光)光柵的位移,再同時經(jīng)過傳感器而采集到物體表面的數(shù)據(jù)信息。