| 測(cè)量功能 |
| 測(cè)量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR |
| 選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 |
| 測(cè)量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) |
| 數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 |
| 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) |
| 測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) |
| 測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz |
| 選件002 | 增加20kHz測(cè)試頻率 |
| 頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) |
| 輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
|
| 交流測(cè)試信號(hào)電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 |
| 精度 | ±（10%+10mV) |
| 內(nèi)部直流偏置 |
| 電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
|
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V |
| 測(cè)量范圍 | 參數(shù)
| 測(cè)量范圍 |
| |Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ |
| |Y|,G,B | 10nS-1000S |
| C | 1pF-1F |
| L | 10nH-100kH |
| D | 0.0001-9.9999 |
| Q | 0.1-9999.9 |
| θ | -180°~+180° |
| DCR | 1mΩ-100MΩ |
| N | 0.9-200（待定） |
| L,M | 1μH-100H（待定） |
| Δ% | -999.99%-+999.99% |
| 測(cè)量精度： | ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) |
| 測(cè)量時(shí)間 | |
| 模式 | 時(shí)間（典型值） |
| 短 | 25ms |
| 中等 | 65ms |
| 長(zhǎng) | 500ms |
| 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器 | 電壓和電流 |
| 前端保護(hù) | 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。*大電容器電壓為；在
Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。 |
| 顯示數(shù)字 | 3，4或5位（可選擇） |
| 修正功能 |
| 開路/短路誤差為0 | 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 |
| 負(fù)載 | 利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測(cè)量的精度 |
| 比較功能 | 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 |
| 接觸檢查功能 | 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms |
| 其它功能 |
| 存儲(chǔ)/調(diào)用 | 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 |
| 連續(xù)存儲(chǔ)功能 | 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)） |
| GPIB接口 | 所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 |
| 處理器接口 | 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) |
| 電源要求 | 90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax |
| 工作溫度 | 0-45℃ |
| 尺寸 | 320mm(寬）*100mm(高）*300mm(長(zhǎng)）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸） |
| 重量： | 4.5kg(9.9磅） |
