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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	菲希爾X射線測厚儀 X-RAY XUL	菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。菲希爾X射線測厚儀又名菲希爾膜厚儀\|X射線膜厚儀\|熒光膜厚儀，X-RAY XUL系列分為固定平臺的XUL和手動平臺XUL-xym
	x射線熒光膜厚儀 X-RAY XDL 210	x射線熒光膜厚儀\|x射線熒光測厚儀\|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板。
	x射線膜厚儀 X-RAY XULM X-RAY XULM? XYm	x射線膜厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM以及XULM® XYm是應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。x射線膜厚儀又稱x-ray熒光分析儀或者x-ray膜厚儀
	德國Surfix膜厚儀 PHYNIXSurfix-Pro-S	德國Surfix膜厚儀Pro-S專業(yè)級膜厚儀強大數據功能.分500組存1萬測值,可換8種碳化鎢超耐磨測頭測鐵基和有色金屬基上鍍層和涂層,分辨率0.1μm,帶軟件.探頭另購,根據所選探頭:精度可達±0.7μm+1%讀數,或范圍可達10mm

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