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德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設(shè)計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測量儀器。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有： 1，測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件 2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層 3，測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層 4，全自動測量，如測量印刷線路板
1，測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件
2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層
3，測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
4，全自動測量，如測量印刷線路板
德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計理念： FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達(dá)驅(qū)動的X/Y工作臺，當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。 高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。 測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。 帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調(diào)整。 所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。 XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀完全滿足DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達(dá)驅(qū)動的X/Y工作臺，當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。
高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調(diào)整。
所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237技術(shù)參數(shù)規(guī)格簡介： 通用規(guī)格 設(shè)計用途 能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)， 分析合金和微量組分。 元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，多可同時測定24種元素 形式設(shè)計 臺式儀器，測量門向上開啟 測量方向 從上到下 德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237X射線源 X射線管 帶鈹窗口的微聚焦鎢管 高壓 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV 孔徑（準(zhǔn)直器） 標(biāo)準(zhǔn)（523-440） 可選（523-366） 可選（524-061） 4個可切換準(zhǔn)直器 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制 基本濾片 3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無） 測量點 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm（選用準(zhǔn)直器0.05x0.05 mm時） X射線探測 X射線接收器 測量距離 比例接收器 0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法 視頻系統(tǒng) 視頻系?? 高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控 十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸） 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品 放大倍數(shù) 40x - 160x 電氣參數(shù) 電源要求 交流 220 V 50 Hz 功率 大 120 W (不包括計算機) 保護等級 IP40 尺寸規(guī)格 外部尺寸 寬x深x高[mm]：570 x 760 x 650 內(nèi)部測量室尺寸 重量 寬x深x高[mm]：460 x 495 x 146 120kg 工作臺 設(shè)計 馬達(dá)驅(qū)動可編程X/Y平臺 大移動范圍 255 × 235 mm X/Y平臺移動速度 ≤ 80 mm/s X/Y平臺移動重復(fù)精度 ≤ 0.01 mm, 單向 可用樣品放置區(qū)域 300 × 350 mm Z軸 可編程運行 Z軸移動范圍 140 mm 樣品大重量 5 kg，降低精度可達(dá)20kg 樣品大高度 140 mm 環(huán)境要求 使用時溫度 10°C – 40°C 存儲或運輸溫度 0°C – 50°C 空氣相對濕度 ≤ 95 %, 無結(jié)露 計算單元 計算機 帶擴展卡的計算機系統(tǒng) 軟件 標(biāo)準(zhǔn)： WinFTM® V.6 LIGHT 可選： WinFTM® V.6 BASIC，PDM®，SUPER 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) CE合格標(biāo)準(zhǔn) EN 61010 X射線標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 3497和 ASTM B 568 型式批準(zhǔn) **而保護**的測量儀器， 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。 德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237訂貨號 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 604-347 如有特殊要求，可與FISCHER磋商，定制特殊的XDLM型號。 更多德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237技術(shù)支持請與我們聯(lián)系。
通用規(guī)格
設(shè)計用途
能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)， 分析合金和微量組分。
元素范圍
從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時，多可同時測定24種元素
形式設(shè)計
臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向
從上到下
德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237X射線源
X射線管
帶鈹窗口的微聚焦鎢管
高壓
三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準(zhǔn)直器）
標(biāo)準(zhǔn)（523-440）
可選（523-366）
可選（524-061）
4個可切換準(zhǔn)直器
[mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制
基本濾片
3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無）
測量點
取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm（選用準(zhǔn)直器0.05x0.05 mm時）
X射線探測
X射線接收器
測量距離
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法
視頻系統(tǒng)
視頻系??
高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控 十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸） 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品
放大倍數(shù)
40x - 160x
電氣參數(shù)
電源要求
交流 220 V 50 Hz
功率
大 120 W (不包括計算機)
保護等級
IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸
寬x深x高[mm]：570 x 760 x 650
內(nèi)部測量室尺寸
重量
寬x深x高[mm]：460 x 495 x 146
120kg
工作臺
設(shè)計
馬達(dá)驅(qū)動可編程X/Y平臺
大移動范圍 255 × 235 mm
X/Y平臺移動速度 ≤ 80 mm/s
X/Y平臺移動重復(fù)精度 ≤ 0.01 mm, 單向
可用樣品放置區(qū)域 300 × 350 mm
Z軸 可編程運行
Z軸移動范圍 140 mm
樣品大重量 5 kg，降低精度可達(dá)20kg
樣品大高度 140 mm
環(huán)境要求
使用時溫度
10°C – 40°C
存儲或運輸溫度
0°C – 50°C
空氣相對濕度
≤ 95 %, 無結(jié)露
計算單元
計算機
帶擴展卡的計算機系統(tǒng)
軟件
標(biāo)準(zhǔn)： WinFTM® V.6 LIGHT 可選： WinFTM® V.6 BASIC，PDM®，SUPER
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE合格標(biāo)準(zhǔn)
EN 61010
X射線標(biāo)準(zhǔn)
DIN ISO 3497和 ASTM B 568
型式批準(zhǔn)
**而保護**的測量儀器， 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。
德國菲希爾公司的X射線熒光鍍層膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237訂貨號
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
604-347
如有特殊要求，可與FISCHER磋商，定制特殊的XDLM型號。
其他檢測儀器：鐵素體測量儀SP10a、推拉力計HF系列、高溫耦合劑sono950
蘇公網(wǎng)安備 32050502000403號
