Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 電化學(xué)掃描探針顯微鏡技術(shù)屬于掃描探針技術(shù)的一種，該技術(shù)使用微小的電極在被浸潤(rùn)的待測(cè)基底上掃描，同時(shí)記錄其電流響應(yīng)。電流響應(yīng)的大小取決于被測(cè)基底的表面形貌和電化學(xué)特性。因此，通過(guò)不同掃描模式的組合，能夠協(xié)助研究人員描述多種多樣的基底形態(tài)和動(dòng)態(tài)反應(yīng)過(guò)程。SECM的強(qiáng)大之處在于它具有超高的時(shí)間和空間分辨率以用于量化物體表面形態(tài)，該技術(shù)目前已經(jīng)被應(yīng)用于各種領(lǐng)域：如生物和神經(jīng)細(xì)胞原位檢測(cè)成像，鋰電子電池和燃料電池，防腐蝕研究，電化學(xué)傳感器，光電化學(xué)材料和光伏器件，環(huán)境科學(xué)等等。

此次我們專門邀請(qǐng)到McGill University的Janine Mauzeroll教授為我們進(jìn)行電化學(xué)掃描探針技術(shù)的深度介紹，其內(nèi)容包括SECM的基本原理，所需的儀器和常用的操作模式，并將詳細(xì)討論用于SECM實(shí)驗(yàn)的氧化還原介質(zhì)、探針和溶劑系統(tǒng)。隨后，她將介紹有關(guān)SECM的前沿應(yīng)用，并著重介紹她在過(guò)去五年中在材料表征、腐蝕和電池方面的工作。

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主講人信息：

Dr.Janine Mauzeroll (NSERC-UFA award, Fred BeamishAward CSC) is a Full Professor of Chemistry and an Associate Member of theMining and Materials Engineering Department at McGill. JM is an electrochemist.She develops new in-situ instruments, experimental and numerical methodologiesfor characterizing a broad range of materials, employing classicalelectrochemistry and scanning probe microscopy. Her work consistently combinesexperimental and theoretical electrochemical methods appliedto pressingbiomedical and industrial problems such as multidrug resistance in human cancercells and corrosion in magnesium containing automobiles.