CMXDL+超聲波測厚儀特點：
測量方式（*測量基體厚度、同時測量基體和涂層的厚度、*測量涂層厚度） 顯示模式（數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<*cmx>） 增益可調節(jié)：超低、低、中、高、** 增益值*高可到110dB 自動增益控制（AGC） 時間增益校正（TCG） 探頭自動識別，自動調零和溫度補償 *大值、*小值顯示 可存儲64個用戶參數(shù)設置 高速掃查（50次/秒） 高達140HZ的脈沖重復頻率 B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀 A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+） 差值測量模式 高速掃查功能可用于快速找到壁厚的*小值 上/下限聲光報警功能 數(shù)據(jù)存貯：可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數(shù) 可通過軟件與計算機進行數(shù)據(jù)交換，方便用戶打印檢測報告
CMXDL+超聲波測厚儀技術參數(shù)：
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
帶自動溫度補償?shù)慕缑娌?底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多層測量(PECT)方式：0.63－508mm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）
穿透涂層測量(E-E)模式：2.54 —102mm（因??層的不同會有所變化）
*測量涂層(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會有所變化）