近紅外漫透射光譜法測完整無缺的西瓜的總糖及熟度

一個無破壞性的近紅外光譜法(700-1100nm)測量西瓜的內(nèi)部品質(zhì)，以蔡司光譜儀帶一個自設計的配件作為測量工具，主要測量一個完整西瓜的總糖及內(nèi)部品質(zhì)，發(fā)現(xiàn)漫透射光譜法可測西瓜的熟度，由二階導數(shù)的光譜值可計算總糖值。
 

作者：Ashenafi Tessema Abebe

Total Sugar and Maturity Evaluation of Intact Watermelon usingNear Infrared Spectroscopy