法國M2M GEKKO相控陣全聚焦(TFM)技術在鍛件(風電軸承等)行業(yè)應用
使用法國M2M 全聚焦檢測設備 & 5L64E探頭
近表面缺陷檢測,檢測過程中發(fā)現*近缺陷離表面1.5毫米。
微小缺陷清晰可見
法國M2M GEKKO相控陣探傷儀 TFM全聚焦技術 的優(yōu)勢
1、設備操作流暢,顯示界面更直觀,操作界面簡單,把復雜設置簡單化。
2、新的TFM 全聚焦技術、檢測精度更高,表面盲區(qū)小,對區(qū)域內的所有位置同時聚焦,比傳統(tǒng)相控陣檢測結果還原性好,缺陷尺寸定量更準確。
3、設備功能豐富,可以導入CAD圖,對檢測復雜工件判斷更準確。
4、上等TCG缺陷對判斷缺陷尺寸更準確。
B型相控陣試塊 用TFM 全聚焦檢測效果 GEKKO 儀器
京公網安備 11010802025952號