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使用高頻超聲測(cè)厚儀和探頭(20 MHz以上)測(cè)量單層薄材料

使用高頻超聲測(cè)厚儀和探頭(20 MHz以上)測(cè)量單層薄材料 


許多手持式腐蝕超聲測(cè)厚儀僅使用雙晶探頭,且其頻率上限約為10 MHz。這些超聲測(cè)厚儀適用于大多數(shù)傳統(tǒng)的腐蝕應(yīng)用,其可測(cè)量的*小厚度約為0.5毫米。相比之下,**超聲測(cè)厚儀可以使用頻率在0.50 MHz到20 MHz之間的單晶探頭進(jìn)行測(cè)量。雖然這些儀器具有比腐蝕超聲測(cè)厚儀更好的*小厚度能力,但在使用20 MHz探頭進(jìn)行測(cè)量時(shí),其*小厚度能力仍然會(huì)受到限制。20 MHz單晶探頭可以測(cè)量低至約0.150–0.200毫米的厚度。

M208 20 MHz延遲塊探頭,可實(shí)現(xiàn)多重回波分離

在0.005英寸處,超聲測(cè)厚儀沒(méi)有顯示讀數(shù),回波也未被清晰分離

使用超聲技術(shù)測(cè)量薄塑料和金屬材料的厚度

過(guò)去,使用超聲波測(cè)量厚度小于0.150毫米的塑料或金屬材料,需要高頻脈沖發(fā)生器接收器、30 MHz至125 MHz的探頭和一個(gè)示波器。這種設(shè)備可能很難設(shè)置,而且需要用戶借助數(shù)字示波器手動(dòng)測(cè)量回波之間的時(shí)間,然后再手動(dòng)計(jì)算出厚度?;谏鲜鲈颍脩敉ǔ?huì)轉(zhuǎn)向其他技術(shù)進(jìn)行這些測(cè)量。

72DL PLUS超聲測(cè)厚儀使用波長(zhǎng)更短的高頻探頭進(jìn)行測(cè)量,可以更好地實(shí)現(xiàn)回波分離,并*終提高測(cè)量*小厚度的能力。這些高頻探頭顯著減小了*大厚度范圍。在許多材料中,30 MHz以上的頻率更容易衰減。

用于測(cè)量超薄材料的高頻超聲測(cè)厚儀

標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)的72DL PLUS超聲**測(cè)厚儀可以使用頻率范圍為0.5–20 MHz的單晶探頭進(jìn)行測(cè)量。高頻型號(hào)的72DL PLUS超聲測(cè)厚儀可以使用頻率*高為125 MHz的探頭,并提供多層軟件選項(xiàng)。將超聲測(cè)厚儀與高頻探頭配套使用,所獲得???可測(cè)*小厚度遠(yuǎn)低于傳統(tǒng)超聲測(cè)厚儀。取決于具體應(yīng)用,可以測(cè)量薄至約0.013毫米的單層材料。

72DL PLUS超聲測(cè)厚儀可以為0.5 MHz至125 MHz的各種奧林巴斯探頭存儲(chǔ)探頭配置。這些默認(rèn)探頭配置適用于許多厚度測(cè)量應(yīng)用。用戶還可以創(chuàng)建、存儲(chǔ)和調(diào)用自定義應(yīng)用。因此,用戶得以輕松調(diào)用存儲(chǔ)的應(yīng)用、連接適當(dāng)?shù)奶筋^,并開(kāi)始進(jìn)行測(cè)量??梢酝ㄟ^(guò)大型觸摸屏和簡(jiǎn)單的用戶界面進(jìn)行調(diào)整。創(chuàng)建了探頭設(shè)置后,檢測(cè)人員即使超聲檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)有限,也可以使用這款儀器。72DL PLUS超聲測(cè)厚儀可以直接顯示以英寸、密耳、毫米和微米為單位的厚度。

常用于薄材料檢測(cè)應(yīng)用的高頻探頭

工件編號(hào) 頻率 端部直徑
M2104 125 MHz 18.8毫米
M2102 75 MHz 18.8毫米
V215-BB-RM 50 MHz 8.48毫米
B126 M2104和M2102去泡系統(tǒng)

*注:還可提供其他探頭。

 

使用72DL PLUS超聲測(cè)厚儀和125 MHz M2104偏移水浸探頭進(jìn)行模式2測(cè)量(從前表面到底面回波)獲得的薄塑料膜的厚度值為0.013毫米。

使用72DL PLUS超聲測(cè)厚儀和125 MHz M2104偏移水浸探頭進(jìn)行模式3測(cè)量(多重底面回波)獲得的薄鋼片的厚度值為0.040毫米。

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