抗干擾介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)特點(diǎn)和工作原理
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標(biāo):
2.1額定工作條件。
2.1.1環(huán)境溫度:0~40℃(當(dāng)溫度超出20℃±5℃時(shí),每變化10℃儀器基本誤差的改變量不超過基本誤差限的1/2。)
2.1.2相對濕度:30%~85%
2.1.3供電電源:電壓:220V±22V,頻率:50±1Hz
2.2外型尺寸:a×b×h,mm:450×330×380
2.3儀器重量:不大于18kg
2.4電子電路功耗:不大于40VA
2.5測量范圍:
2.5.1介質(zhì)損耗(tgδ):0~1 分辨率0.0001
2.5.2電容量(Cx): *小分辨率0.01PF
2.5.2.1內(nèi)接方式
試驗(yàn)電壓
試品電容量
5KV
7.5KV 10KV 3PF~40000PF
1.5KV
2.25KV 3K 10PF~0.35μF
0.5kv
0.75kv 1kv 30PF~1.5μF
2.5.2.2外接方式
“外接升壓器”方式*高試驗(yàn)電壓10KV
“外接Cn”方式(外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器)*高試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC)
標(biāo)準(zhǔn)回路*大電流50mA(In=UωCn)
被試回路*大電流2A(Ix=UωCx)
2.6基本測量誤差
產(chǎn)品在環(huán)境溫度20℃±5℃、相對濕度30%~85%的條件下,應(yīng)符合表1之規(guī)定。
表1
測量內(nèi)容
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tgδ范圍
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電容量范圍(Cx)
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試品類型
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基本誤差
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介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ
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0~1
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50pF~60000pF
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非接地
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±(1%讀數(shù)+0.0005)
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接地
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±(1%讀數(shù)+0.0010)
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10pF~50pF或60000pF以上
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非接地
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±(1%讀數(shù)+0.0010)
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接地
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±(2%讀數(shù)+0.0020)
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3pF~10pF
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非接地與接地
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電容量
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50pF以上
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±(1%讀數(shù)+1pF)
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50pF以下
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±(1%讀數(shù)+2pF)
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2.7內(nèi)部升壓器輸出能力
輸出電壓 額定輸出電流
5kv
7.5kv
10kv
100mA
1.5kv
2.25kv
3kv
300mA
0.5kv
0.75kv
1kv
500mA
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀工作原理:
儀器測量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被測回路,如圖3所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度的標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算,分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測量結(jié)果可靠?,F(xiàn)場有干擾時(shí),先利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測得的電流Ix’與單獨(dú)測得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測量電流Ix,進(jìn)而得出正確的測量結(jié)果。由圖3可見,可根據(jù)不同的測量對象和測量需要,靈活地采用多種接線方式。如測量非接地試品(正接法)時(shí),CX線內(nèi)屏蔽(E)點(diǎn)接地;而測量接地試品(反接法)時(shí),則“Hv”點(diǎn)接地。
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