RTS-4單晶硅半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀
RTS-4型四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了*新電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
RTS-4型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析
RTS-4單晶硅半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀
測量范圍 |
電阻率:0.0001~2000Ω.cm(可擴展); 方塊電阻:0.001~20000Ω/□(可擴展); 電導(dǎo)率:0.0005~10000 s/cm; 電阻:0.0001~2000Ω.cm; |
可測晶片直徑 |
140mmX150mm(配S-2A型測試臺); |
恒流源 |
電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔???各檔電流連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表 |
量程及表示形式000.00~199.99 mV; |
四探針探頭基本指標 |
間距:1±0.01mm; |
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) |
(見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差 |
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
整機測量*大相對誤差 |
(用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試) ≤±5% |
整機測量標準不確定度 |
≤5% |
測試模式 |
可連接電腦測試也可不連接電腦測試。 |
軟件功能(選配) |
軟件可記錄、保存、打印每一點的測試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計分析測試數(shù)據(jù)*大值、*小值、平均值、*大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測試數(shù)據(jù)輸出到Excel中,對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動測量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動選擇適合電流量程檔測試。 |
計算機通訊接口 |
并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時采集數(shù)據(jù)到電腦的時間只需要1.5 秒。 |
標準使用環(huán)境 |
溫度:23±2℃; |
RTS-4單晶硅半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀
序號 |
品名 |
單位 |
配置 |
1 |
RTS-4四探針測試儀 |
套 |
四探針測試儀主機一臺、S-2B手動測試臺一臺、四探針探頭一個 |
2 |
RTS-4四探針測試儀 |
套 |
四探針測試儀主機一臺、S-2B手動測試臺一臺、四探針探頭一個、測試軟件(含測控模塊) |
3 |
RTS-4四探針測試儀 |
套 |
四探針測試儀主機一臺、S-2B手動測試臺一臺、四探針探頭一個、測試軟件(含測控模塊)、臺式電腦一臺 |
3 |
RTS-4四探針測試儀 |
套 |
四探針測試儀主機一臺、DJ-2電動測試臺一臺、四探針探頭一個 |
4 |
RTS-4四探針測試儀 |
套 |
四探針測試儀主機一臺、DJ-2電動測試臺一臺、四探針探頭一個、測試軟件(含測試模塊) |
4 |
RTS-4四探針測試儀 |
套 |
四探針測試儀主機一臺、DJ-2電動測試臺一臺、四探針探頭一個、測試軟件(含測試模塊)、臺式電腦一臺 |