克列茨 KEW 4140 回路電阻測(cè)試儀
KEW 4140(ATT)反跳脫技術(shù)適用于所有額定30mA以上RCD的完整的自由跳脫回路測(cè)試。 雙重顯示允許LOOP和PFC/PSC測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。 LOOP L-L,L-N和PSC測(cè)試中科雙重接線。 可進(jìn)行相位旋轉(zhuǎn),電壓和頻率測(cè)試。 “自動(dòng)”測(cè)試的鎖定鍵可自動(dòng)開始操作。 顯示屏和前面板按鍵的背光燈便于在昏暗處操作。 防水防塵設(shè)計(jì)(IP54)。 設(shè)計(jì)符合國(guó)際**規(guī)格IEC61010-1 CAT.III 300V(500V L-L)。
回路阻抗
粵公網(wǎng)安備 44030402001250號(hào)