簡要概述：
AV6362型光譜分析儀是一種新型的高性能光譜分析儀,它是采用世界上先進的雙通光柵單色儀、高分辨率直接驅(qū)動衍射光柵、光學楔形延遲消偏振、數(shù)字濾波等技術(shù)研制而成。整機性能指標達到國際同類產(chǎn)品先進水平。
主要特點
? 70dB動態(tài)范圍
? -90dBm電平測量靈敏度
? PMD測試
? WDM測試
? 測試數(shù)據(jù)存儲輸出
? 跟蹤可調(diào)諧激光源測量
? 調(diào)制光測量
高動態(tài)范圍
AV6362型光譜分析儀具有高動態(tài)范圍測試模式，在此模式下，距峰值波長±1nm范圍內(nèi)，動態(tài)范圍可達70dB。
-90dBm電平測量靈敏度
通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù)，極大地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段優(yōu)于－90dBm。
自動PMD測試
WDM測試
WDM測量分析信噪比(SNR)，各個波峰之間的波長間隔、電平差異等重要參數(shù)。*多可以檢測到300個波峰。
測試數(shù)據(jù)存儲輸出
光譜測試數(shù)據(jù)可用.bmp或.txt格式文件存儲和輸出。
跟蹤可調(diào)諧激光源測量
儀器可以對可調(diào)諧光源進行跟蹤測量。跟蹤測量和可調(diào)諧光源的波長輸出由光譜分析儀控制。發(fā)送波長端(可調(diào)諧光源)和接收端(光譜分析儀)可以進行同步測量。
調(diào)制光測量
調(diào)制光測量可用于監(jiān)測調(diào)制光。通過輸入一個與調(diào)制信號同步的外部觸發(fā)信號，可以測量調(diào)制光。
典型應(yīng)用：LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析
技術(shù)規(guī)范
n 波長范圍：600nm～1700nm
n 電平范圍：+10～-65dBm(600～1000nm) +10～-85dBm(1000～1250nm)
+20～-90dBm(1250～1600nm) +10～-75dBm(1600～1700nm)
n 電平準確度：±0.4dB(1310/1550nm)
n 電平線性：±0.1dB(1550nm,-50～0dBm)
n 動態(tài)范圍：≥70dB(距峰值±1nm處)
n 波長準確度：±0.3nm;±0.05nm(1520～1600nm,用戶校準后)
n 光譜分辨帶寬：0.05,0.07,0.1,0.2,0.5,1nm
n 偏振相關(guān)度：±0.05dB(1550nm);±0.1dB(1310nm)
n 顯示：彩色TFT-LCD
n 存儲：A/B(2曲線),測試結(jié)果(.bmp或.txt格式)存儲
n 打印：內(nèi)置熱敏打印機
n 接口：GP-IB,RS232C,VGA輸出
n 工作條件：環(huán)境溫度:10～40℃;濕度:≤90%
n 外形尺寸和重量：360(W)×188(H)×400(D)mm,≤17kg
n 電源：220Vac±10%,50Hz
訂貨信息：
主機：AV6362光譜分析儀
標配：電源線、熱敏打印紙、用戶手冊
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