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產(chǎn)品簡單介紹
SDY-5四探針測試儀
SDY-5 說明書 參數(shù) 上海價格
SDY-5四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術(shù),利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,從而提高了測量結(jié)果的準確度;歡迎選購SDY-5四探針測試儀。
RTS-1345自動四探針測試系統(tǒng)
RTS-1345 說明書 參數(shù) 上海價格
RTS-1345自動四探針測試系統(tǒng)是運用四探針測量原理的多用途綜合全自動測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器;歡迎選購RTS-1345自動四探針測試系統(tǒng)。
AT520L電池內(nèi)阻測試儀
AT520L 說明書 參數(shù) 上海價格
AT520L電池內(nèi)阻測試儀,是一種精簡型智能電池內(nèi)阻測試儀??梢?*測試電池內(nèi)部電阻和電池電壓。電阻測量范圍10μΩ~32Ω 電壓測量范圍1mV~60VDC,完全可以滿足電池生產(chǎn)廠家對電池的檢驗;儀器量販大量供應,歡迎選購AT520L參數(shù)價格。
FT系列四探針探頭
FT-201 FT-202 FT-203 FT-204 參數(shù) 說明書 上海價格
FT系列四探針探頭;探針間距:1±0.010mm;探針材料:高速鋼或碳化鎢;探針壓力:5~8牛頓或12~16牛頓;是采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機械結(jié)構(gòu)優(yōu)良彈**、耐磨和硬度高的探針研制的測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準確度高、耐用性能好四探針探頭;歡迎選購FT-201 FT-202 FT-203 FT-204優(yōu)惠價格。
RTS-7二探針測試儀
RTS-7 rts-7 說明書 參數(shù) 上海價格
RTS-7二探針測試儀,測量范圍: 電阻率:10-4~105 Ω.cm; 分辨率:10-3Ω.cm;是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器;歡迎選購RTS-7參數(shù)價格。
PN-30導電類型鑒別儀
PN-30 pn 30 說明書 參數(shù) 優(yōu)惠價格
PN-30導電類型鑒別儀采用整流法(也稱三探針法)和溫差法(也稱冷熱探筆法來判斷單晶(或多晶)硅的導電類型(N型或P型),用N型和P型顯示屏直接顯示單晶(或多晶)導電類型;歡迎選購PN-30優(yōu)惠價格。
JX2008硅材料綜合測試儀
JX2008 說明書 參數(shù) 優(yōu)惠價格
JX2008硅材料綜合測試儀,具有電阻率及型號測試功能,適合分選型號,并能夠測試并顯示出電阻率的值;儀器量販大量供應,可工廠直接下單,交貨迅速,歡迎選購JX2008參數(shù)價格。
KDY-1四探針電阻率測試儀
KDY-1 說明書 參數(shù) 優(yōu)惠價格
KDY-1四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造,并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進;儀器量販大量供應,可工廠直接下單,交貨迅速,歡迎選購KDY-1 參數(shù)價格。
四探針探頭HP501上海價格
HP501 HP502 HP503 規(guī)格 價格*低 說明書
四探針探頭HP501上海價格HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻;歡迎選購HP501 HP502 HP503價格*低。
四探針測試儀TH2661參數(shù)價格
TH2661 th2661 說明書 參數(shù) 優(yōu)惠價格
四探針測試儀TH2661參數(shù)價格,測試參數(shù):電壓,電阻率,方阻,電阻,基本準確度:0.5%,恒流源:100nA,1uA,10uA,100uA,1mA,10mA ,儀器量販大量供應,可工廠直接下訂單,交貨迅速,歡迎選購四探針測試儀TH2661說明書。
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