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上海騰鉆精密儀器有限公司
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膜厚計測量臺 | 數(shù)顯式膜厚計

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	日本凱特(KETT) LZ-330J涂層測厚儀	日本凱特(KETT) LZ-330J涂層測厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性屬基體（如鐵、合和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性*屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等，有四個統(tǒng)計功能，3124個數(shù)據(jù)儲存,可外接電腦。
	LZ-330J日本凱特涂層測厚儀	LZ-330J日本凱特涂層測厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性屬基體（如鐵、合和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性*屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、相交、油漆、塑料等，有四個統(tǒng)計功能，3124個數(shù)據(jù)儲存,可外接電腦。
	膜厚計測量臺	LW - 990 膜厚計測量臺尺寸和重量 150（寬）× 210（四）× 280（高）毫米，2.5公斤支持的傳感器探頭：　 LHP-20/20C/30/30C/J和LEP
	LZ-990 膜厚計	LZ-990 膜厚計測量方法電磁渦流兩用（自動檢測）測量對象磁性屬上非磁性屬涂層和非磁性絕緣涂層測量范圍 0-0或2000μm?80.0mils
	LH-370 膜厚計	LH-370 膜厚計LH-370 膜厚計測量方法渦流測量對象非磁性*屬上的絕緣涂層測量范圍 0或1200μm47.0mils
	LE-370 膜厚計	LE-370 膜厚計測定方式電磁誘導式測定対象磁性體上の非磁性被膜測定範囲 0～2500μmまたは99.0mils
	LZ-200W 膜厚度計	LZ-200W 膜厚度計測量方法感應/電渦流渦流結合測量對象絕緣非磁性屬和磁性屬上非磁性涂層涂料測量范圍電磁：0或1500μm60.00mils 渦流：0或800μm的32.00mils
	日本凱特數(shù)顯式涂層測厚儀	LH-200J 涂層測厚儀測量方法渦流測量對象非磁性*屬上的絕緣涂層測量范圍 0或800μm的32.00mils 測量精度小于50μm的：± 1微米，大于50μm以上：± 2％
	日本SANKO"三高牌"膜厚計	日本SANKO"三高牌"膜厚計 SME-1電磁誘導,渦電流兩用基本型規(guī)格: 量程:電磁式0-900μm～3mm 渦電流式0-900μm 分解度:電磁式1μm(0--900μm) 0. 01mm(1～3mm) 渦電流式1μm(0--900μm)
	膜厚計（涂鍍層測厚儀）	日本凱特200系列膜厚計（涂鍍層測厚儀）本儀器采用了磁性和渦流???種測厚方法，可無損的測量磁性屬基體（如鐵、合和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性*屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

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