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日本日立HITACHI，高速缺陷觀測設(shè)備，貴陽供應(yīng)

供應(yīng)日本日立HITACHI高速缺陷觀測設(shè)備CR6300(Defect Review SEM) 的詳細介紹

特長

高畫質(zhì)，高對此，高解析度SEM圖像
高速缺陷攝像（ADR）
人性化的GUI

＜選項＞

自動缺陷分類（ADC）
Bare wafer自動觀測
檢查制程說明書（iPQ）

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