高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹
高低溫試驗(yàn)箱具備高溫，低溫，常溫等不同溫度的設(shè)定，在芯片行業(yè)廣泛用于老化測(cè)試，今天海銀試驗(yàn)裝備分享高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹。
芯片*終產(chǎn)品檢測(cè)(FT)，是在晶片通過(guò)了封裝測(cè)試后對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行的檢測(cè)。在封裝過(guò)程中經(jīng)常用來(lái)過(guò)濾有缺陷的芯片和無(wú)法覆蓋的芯片測(cè)試，如高速測(cè)試等。一般來(lái)說(shuō)，封裝后的測(cè)試，需要用到高低溫試驗(yàn)箱，來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行包括高溫、室溫、低溫、抽樣測(cè)試等幾個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)。
芯片包裝后，將被送往*終測(cè)試:在高低溫試驗(yàn)箱中設(shè)定不同溫度，在不利環(huán)境下強(qiáng)制不穩(wěn)定的芯片無(wú)效。試驗(yàn)過(guò)程中，旋轉(zhuǎn)機(jī)內(nèi)的高速運(yùn)動(dòng)會(huì)使焊接接頭與焊接墊片機(jī)械結(jié)合不牢固。溫度過(guò)高會(huì)加速電子元件的失效。晶片*終會(huì)被放入特別的擱板，在正常運(yùn)行數(shù)天后，這就是所謂的老化試驗(yàn)。一些微處理器芯片在預(yù)設(shè)頻率下無(wú)法工作，但它們可以在較低頻率下正常工作，因此它們被用作低價(jià)低速處理器芯片。老化測(cè)試成功的芯片可以賣(mài)給客戶(hù)。公司主要客戶(hù)為電子行業(yè)，合格的芯片將應(yīng)用于電子系統(tǒng)電路板。
海銀試驗(yàn)裝備在芯片測(cè)試行業(yè)，有著廣泛的客戶(hù)群體，能給予芯片行業(yè)的測(cè)試需求，進(jìn)行老化方案的制定和高低溫試驗(yàn)箱的定制。
好了，今天就分享高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹到這里，感謝大家的學(xué)習(xí)和參考。