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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱測(cè)試要求 COK-150T-3H	三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造，適用于航空、航太、**、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗(yàn)。供用戶對(duì)整機(jī)(或部件)、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應(yīng)的氣候環(huán)境加速試驗(yàn)，以便對(duì)試品或試品試驗(yàn)行為作出評(píng)價(jià)。特點(diǎn) 利用低溫及高溫蓄冷熱槽，依氣缸閥門動(dòng)作需要，將高溫能量及低溫能量送至到試驗(yàn)槽內(nèi)，從而達(dá)到快速溫度沖擊效果，平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)+特殊設(shè)計(jì)之送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，以PID方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長(zhǎng)期穩(wěn)定的使用。
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱 COK-252T-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱工作原理 COK-150-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱工作原理 COK-252L-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱兩槽溫度沖擊 COK—150G—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱溫度沖擊三箱式試驗(yàn)箱 COK—80T—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱測(cè)試 COK-252-3H-6	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱工作原理 COK-408-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱 COK-252-3H-32	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱 COK-252-3H-88	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	高低溫冷熱沖擊兩槽試驗(yàn)箱 COK—50—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	高低溫冷熱沖擊兩槽式試驗(yàn)箱 COK—150—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱溫度沖擊兩槽式試驗(yàn)箱 COK—80—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱溫度沖擊兩槽式試驗(yàn)箱 COK—100—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度沖擊兩槽 COK—800—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	冷熱沖擊試驗(yàn)箱兩槽溫度沖擊 COK—408—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	溫度循環(huán)冷熱沖擊兩廂式 COK—150—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	溫度循環(huán)冷熱沖擊—兩廂式 COK—80—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	溫度循環(huán)冷熱沖擊—兩廂式 COK-150-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。
	三廂式高低溫循環(huán)冷熱沖擊 COK—408—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。

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