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產(chǎn)品資料

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀(Q表法)

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀(Q表法)
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  • 產(chǎn)品名稱:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀(Q表法)
  • 產(chǎn)品型號(hào):WY2855
  • 產(chǎn)品展商:其它品牌
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
WY2855介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀(Q表法),由Q表、測(cè)試裝置,電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 WY2855介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。
產(chǎn)品描述
WY2855介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀中,測(cè)試裝置是由平板電容器和測(cè)微圓筒線性電容器組成,平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。同樣,由測(cè)微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化,通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。
1 特點(diǎn):                            
◎ 本公司**的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz(WY2852D), 50kHz~160MHz(WY2853D)測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào)   源輸出口,所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。
◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2 主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。
2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:
      tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度(1MHz):
      tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
 
2.2 Q表
型號(hào)
WY2851D
WY2852D
WY2853D
工作頻率范圍
50kHz50MHz
四位數(shù)顯,壓控振蕩器
1kHz70MHz
四位數(shù)顯,數(shù)字合成
精度:±50ppm
50kHz160MHz
四位數(shù)顯,數(shù)字合成
精度:±50ppm
Q值測(cè)量范圍
11000
三位數(shù)顯,±1Q分辨率
11000
四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率
11000
四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率
可調(diào)電容范圍
40500 pF
ΔC±3pF
40500 pF
ΔC±3pF
13230 pF
電容測(cè)量誤差
±1%±1pF
±1%±1pF
±1%±0.5pF
Q表殘余電感值
20nH
20nH
8nH

 
2.3 介質(zhì)損耗裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸:
      WY916D:Φ38mm和Φ50mm二種.
      WY915:Φ38mm .
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:
      0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 
      0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:
      ±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:
      25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:
      ≤2.5×10-4
 
2.4 電感器:
  按測(cè)試頻率要求,需要配置不同量的電感器。例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。

2.5 高頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件):
  在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
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