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上海端懿電氣科技有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	AT510Pro直流電阻測(cè)試儀 AT510Pro	AT510Pro直流電阻測(cè)試儀概述 AT510PRO是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀?？梢詼y(cè)試1μΩ～20MΩ的電阻，*大顯示30,000數(shù)。高速測(cè)試60次/秒，測(cè)試速度在15次/秒下，依然可以保證0.05%±2字的準(zhǔn)確度。
	AT510L直流低電阻測(cè)試儀 AT510L	AT510L直流低電阻測(cè)試儀概述 AT510L是一種采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀?？梢詼y(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，*大顯示30,000數(shù)。經(jīng)濟(jì)型，針對(duì)低電阻的電阻測(cè)試儀。
	AT511A直流電阻測(cè)試儀(低電流型 ) AT511A	AT511A直流電阻測(cè)試儀概述 AT511A是根據(jù)客戶需求重新開發(fā)的一種經(jīng)濟(jì)型高性能電阻測(cè)試儀，全新設(shè)計(jì)的操作面板，更符合客戶的操作習(xí)慣，分選設(shè)置更方便，測(cè)試電流兼容日置3540。替代AT511,可以測(cè)試10μΩ～29.99kΩ的電阻，*大顯示2,999數(shù)。它的低測(cè)試電流,特別適合于需低功耗電阻測(cè)試的場(chǎng)合。分選功能適用于出廠檢驗(yàn)，產(chǎn)品分選。
	AT511M直流電阻測(cè)試儀 AT511M	AT511M直流電阻測(cè)試儀概述 AT511M是一種操作簡(jiǎn)單，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的電阻測(cè)試儀?？梢詼y(cè)試0.1mΩ～29.99kΩ的電阻，*大顯示2,999數(shù)。特別適合于需低功耗電阻測(cè)試的場(chǎng)合。以高性能的處理器實(shí)現(xiàn)傻瓜式操作，使您的測(cè)試工作輕松完成。
	AT512精密電阻測(cè)試儀 AT512	AT512精密電阻測(cè)試儀概述【2010升級(jí)版】AT512 是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。它可以量測(cè) 0.1μ?～1G?的電阻，*大顯示 105,000 數(shù)。
	AT2511直流電阻測(cè)試儀 AT2511	AT2511直流電阻測(cè)試儀概述 AT2511是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是AT511A的升級(jí)版本。 AT2511相對(duì)于前代產(chǎn)品AT511A，具有更廣的測(cè)試范圍：0.01mΩ～200.0kΩ，大顯示5000數(shù) 。同時(shí)提升了測(cè)試速度：快可達(dá)10次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從高量程到低量程的切換。
	AT518L手持直流低電阻測(cè)試儀 AT518L	AT518L手持直流低電阻測(cè)試儀概述 AT518L手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的便攜手持儀器，內(nèi)置大容量鋰電池在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無源元件進(jìn)行而便捷的測(cè)量。
	AT510SE直流電阻測(cè)試儀 AT510SE	AT510SE直流電阻測(cè)試儀概述 AT510SE是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。提供10μΩ～300kΩ的電阻，大顯示30,000數(shù)。適中的配置提供佳性價(jià)比。
	AT511C直流電阻測(cè)試儀 AT511C	AT511C直流電阻測(cè)試儀概述 AT511C 是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是 AT511M 的升級(jí)版本。AT511C 相對(duì)于前代產(chǎn)品 AT511M，具有更廣的測(cè)試范圍：0.1mΩ～50.00kΩ，大顯示 5000 數(shù)。同時(shí)提升了測(cè)試速度：快可達(dá) 10 次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從高量程到低量程的切換。
	AT520交流低電阻測(cè)試儀 AT520	AT520交流低電阻測(cè)試儀概述 AT520是一種高精度、高穩(wěn)定性的交流電阻測(cè)試儀。主要用于測(cè)量接觸電阻、電池內(nèi)部電阻和電池電壓。本產(chǎn)品可同時(shí)測(cè)量電阻和電壓并比較電池內(nèi)阻和開路電壓。
	AT520SE交流低電阻測(cè)試儀 AT520SE	AT520SE交流低電阻測(cè)試儀概述 AT520SE是一種性價(jià)比較高的交流電阻測(cè)試儀。測(cè)試接觸電阻、電池內(nèi)部電阻和電池電壓。本產(chǎn)品可同時(shí)測(cè)量電阻和電壓并比較電池內(nèi)阻和開路電壓，可完全替代Hioki3550，Hioki3555，比較適用于電池流水線上的產(chǎn)品分選和出廠檢驗(yàn)。也可用于低電流測(cè)試條件下來表征機(jī)電元件的低阻特性，符合GB5095/GJB1217測(cè)試要求。同時(shí)還是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)用的交流毫歐表。
	AT520L電池內(nèi)阻測(cè)試儀 AT520L	T520L電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述 AT520L是一種精簡(jiǎn)型智能電池內(nèi)阻測(cè)試儀。可以測(cè)試電池內(nèi)部電阻和電??電壓。電阻測(cè)量范圍10μΩ～32Ω電壓測(cè)量范圍1mV~60VDC，完全可以滿足電池生產(chǎn)廠家對(duì)電池的檢驗(yàn)，AT520L并帶有內(nèi)阻比較器功能，比較適用于電池流水線上的產(chǎn)品分選和出廠檢驗(yàn)。
	AT520A電池內(nèi)阻測(cè)試儀 AT520A	AT520A電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述由AT520改進(jìn)的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。AT520A除了測(cè)試電池內(nèi)阻外，還內(nèi)置2組直流電壓表。高精度和高速的三參數(shù)測(cè)試和專為配合自動(dòng)化設(shè)備配置的3參數(shù)獨(dú)立比較器及Handler接口為電池行業(yè)提供*佳解決方案。
	AT520B高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀 AT520B	AT520B高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述 AT520B 是全新設(shè)計(jì)的高壓電池內(nèi)阻測(cè)試儀。AT520B 針對(duì)高壓電池進(jìn)行電壓和內(nèi)阻測(cè)試，內(nèi)置直流高電壓表。 AT520B 可以測(cè)量0.1mΩ~300Ω 的電池內(nèi)阻，并且同時(shí)可以測(cè)量*高780V的電池電壓。
	AT521電池內(nèi)阻測(cè)試儀 AT521	AT521電池內(nèi)阻測(cè)試儀概述 AT521是一種精簡(jiǎn)型智能電池內(nèi)阻測(cè)試儀?？梢詼y(cè)試電池內(nèi)部電阻和電池電壓。電阻測(cè)量范圍10μΩ～32Ω 電壓測(cè)量范圍1mV~30VDC，完全可以滿足電池生產(chǎn)廠家對(duì)電池的檢驗(yàn)，符合GB5095/GJB1217測(cè)試要求。
	AT610D電容測(cè)試儀 AT610D	AT610D電容測(cè)試儀概述 2011年全新第五版，使用*新技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT610D，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
	AT6810電容綜合測(cè)試儀 AT6810	AT6810電容綜合測(cè)試儀概述 AT6810 電容綜合測(cè)試儀用于電容分選機(jī)，主要測(cè)量電容的容量，損耗，等效電阻，同時(shí)對(duì)4路電容漏電流，2路開短路進(jìn)行測(cè)量,標(biāo)配RS232和Handler接口，應(yīng)付自動(dòng)化設(shè)備綽綽有余,儀器標(biāo)配有采集軟件，您可以點(diǎn)擊下載。
	AT610電容測(cè)試儀 AT610	AT610電容測(cè)試儀概述 2011年全新第五版，使用*新技術(shù)重新設(shè)計(jì)的AT610，穩(wěn)定性更佳，全新按鍵設(shè)計(jì)，操作更簡(jiǎn)單。
	AT617精密電容測(cè)試儀 AT617	AT617精密電容測(cè)試儀概述 AT617 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能精密電容測(cè)試儀。
	AT6832漏電流測(cè)試儀 AT6832	AT6832漏電流測(cè)試儀概述 AT6832是專為電容分選機(jī)設(shè)計(jì)的漏電流檢測(cè)儀器，它采用高性能微處理器控制。具有預(yù)充電電源和獨(dú)立的測(cè)試電源，六量程測(cè)試，漏電流測(cè)量范圍可達(dá) 0.1nA~20mA，大顯示位數(shù) 9999 數(shù)。測(cè)試速度可達(dá) 55 次/秒，超高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了佳方案。