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噪聲分析儀紡織檢測(cè)儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測(cè)溫儀轉(zhuǎn)矩測(cè)試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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首頁(yè)?>?產(chǎn)品目錄?>?Chroma?>? 光伏/逆變器測(cè)試及自動(dòng)化解決方案

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	光伏自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備 Model MAS 光伏自動(dòng)化生產(chǎn)設(shè)備	CIM的數(shù)據(jù)整合：提供PLC數(shù)據(jù)的LOG文件傳輸，將生產(chǎn)的數(shù)據(jù)作整合，讓客戶的CIM能作有效的分析及作有效率的改善，讓產(chǎn)線的良率及產(chǎn)能作更好的提升
	光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測(cè)機(jī) Model 7213-AD	光伏電池片的背面印刷瑕疵可能會(huì)造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的**影響。在所有的背面印刷瑕疵之中，非正常絲網(wǎng)印刷過(guò)程所產(chǎn)生的鋁凸，將會(huì)在模組封裝過(guò)程之中造成極高的破損率。Chroma 7213-AD背面印刷暨表面檢測(cè)機(jī)應(yīng)用了特殊光源設(shè)計(jì)來(lái)偵測(cè)常見(jiàn)的背面印刷瑕疵，甚至是鋁凸瑕疵。
	光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測(cè)機(jī) Model 7212-HD	光伏電池片的正面印刷瑕疵可能會(huì)造成外觀瑕疵或者可靠度表現(xiàn)上的*影響。因此，像是"主柵線的銀漿缺失"、"柵線斷柵"、"印刷偏移"、"水痕"等，皆需要透過(guò)可信賴且高準(zhǔn)確性的光學(xué)檢測(cè)儀器(AOI)來(lái)進(jìn)行篩選，以保持出貨電池片的高品質(zhì)
	光伏電池片顏色分選機(jī) Model 7211-D	Chroma 7211-D是為了提供高度重復(fù)性的電池片分色結(jié)果而設(shè)計(jì)的。由于使用了CIE 1931 Lab的色彩空間以及將電池片分割成至多60X60的顏色檢測(cè)區(qū)域，7211-D可以提供將近3600個(gè)區(qū)域的顏色資訊，供顏色分選時(shí)候的參數(shù)設(shè)定使用。透過(guò)各種顏色資訊以及使用者自訂的分色方法，即使是像多晶時(shí)候的非均勻顏色分布，或者是非均勻的抗反色層厚度，都可以被精準(zhǔn)的定義出來(lái)
	光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī) Model 7231	切割線鋸痕是由于切割時(shí)候的雜質(zhì)影響或者是切割線振動(dòng)所造成的。有時(shí)候發(fā)生在邊緣而也有可能發(fā)生在硅片中間的位置。由于Chroma使用EN 50513 2009的檢測(cè)手法來(lái)進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì)，所以即使是發(fā)生在硅片中央位置的切割線鋸痕，也可以正確檢測(cè)無(wú)誤。
	光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī) Model 7202	為了提供*高重復(fù)性的晶格尺寸檢測(cè)結(jié)果，Chroma在7202上頭使用了獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)來(lái)強(qiáng)化晶格特征。而當(dāng)晶格尺寸可以被量化之后，分類好的硅片就可以套用于不同的生產(chǎn)工藝，拿來(lái)在不同的電池片生產(chǎn)線進(jìn)行生產(chǎn)，藉以提高電池片生產(chǎn)時(shí)候的平均轉(zhuǎn)換效率。
	光伏硅片外觀暨表面臟污檢測(cè)機(jī) Model 7201	Chroma 7201可用來(lái)檢測(cè)硅片長(zhǎng)度、寬度、對(duì)角線、邊緣夾角、導(dǎo)角尺寸以及導(dǎo)角角度等，同時(shí)也可以檢測(cè)表面瑕疵。設(shè)計(jì)完善的軟體以及操作介面可供使用者設(shè)定不同的檢測(cè)參數(shù)來(lái)達(dá)到檢測(cè)結(jié)果，同時(shí)也提供瑕疵顯示以及儲(chǔ)存功能來(lái)留待日后進(jìn)行MES/CIM的分析以及整合。
	series 光伏電池與模塊 I-V 測(cè)試系統(tǒng) Model 53310	I-V 測(cè)試是各式 P V 技術(shù)中，包括晶矽電池/ 模組、Si-base、 CIGS、CdTe、TF 模組、GaAs-base 多接點(diǎn)電池等中*常用的測(cè)試。在各種不同的光伏電池技術(shù)中，僅有的兩個(gè)差異為 : 日光模擬光源的照射區(qū)和強(qiáng)度，以及 I-V 測(cè)試儀電壓/電流和功率范圍。
	c-Si光伏電池片測(cè)試系統(tǒng) Model 58301	對(duì)光伏電池片/組件的測(cè)試制造商而言，*重要的即是 I-V 的測(cè)試，因?yàn)楣夥姵?片/組件的功率或光電轉(zhuǎn)換效率的量測(cè)結(jié)果會(huì)直接影響產(chǎn)品價(jià)格。因此，高準(zhǔn)確度且可重復(fù)的 I-V測(cè)試結(jié)果不僅是質(zhì)量議題，同時(shí)也是獲利的關(guān)鍵。然而，光伏電池片的 I-V 測(cè)試，意味著對(duì)各種不同技術(shù)的挑戰(zhàn)，因此要達(dá)到穩(wěn)定且準(zhǔn)確的測(cè) 試結(jié)果，通常是非常困難的，即使是使用 AAA 級(jí)類型的日光模擬光源。
	光伏芯片擴(kuò)散制程上下貨及檢測(cè)系統(tǒng) Model 3775	通常用于芯片磷擴(kuò)散的爐管制程。在擴(kuò)散制程中致茂可提供客戶使用短版的晶舟，或長(zhǎng)版晶舟來(lái)上下載具的傳輸設(shè)備。芯片的傳送使用高速富撓性的取放機(jī)器人。致茂在擴(kuò)散過(guò)程中提供的載具傳輸設(shè)備，低破片率，高產(chǎn)量和低成本可滿足客戶的擴(kuò)散制程功能要求。
	光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng) Model 3710-HS	Chroma 3710HS整合了2D 幾何計(jì)算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學(xué)檢測(cè)功能，并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測(cè)試，是一套可針對(duì)使用者全方位客制化的光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)

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