簡單介紹
為了提供*高重復(fù)性的晶格尺寸檢測結(jié)果,Chroma在7202上頭使用了獨特 的光學(xué)設(shè)計來強化晶格特征。而當(dāng)晶格尺寸可以被量化之后,分類好的硅片 就可以套用于不同的生產(chǎn)工藝,拿來在不同的電池片生產(chǎn)線進(jìn)行生產(chǎn),藉以 提高電池片生產(chǎn)時候的平均轉(zhuǎn)換效率。
產(chǎn)品描述
主要特色:
- 可整合到任何硅片分選機上
- 可調(diào)整式的演算法可供檢測5"、6"以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片
- 多樣化介面選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)連線
- 檢測晶格尺寸的特殊光源設(shè)計
7202同時也可以檢測孔洞瑕疵。而孔洞瑕疵正是造成光伏模組失效的 μ-crack或者嚴(yán)重local shunting的原因。
- 可整合到任何硅片分選機上
- 可調(diào)整式的演算法可供檢測5"、6"以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片
- 多樣化介面選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)連線
- 檢測晶格尺寸的特殊光源設(shè)計
7202晶格檢測范例
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