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噪聲分析儀紡織檢測儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測溫儀轉(zhuǎn)矩測試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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首頁?>?產(chǎn)品目錄?>?Chroma?>?半導(dǎo)體/IC測試解決方案

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	半導(dǎo)體測試機(jī) 58173-V	致茂58173-V半導(dǎo)體測試機(jī)適合用于可見光或紅外光通訊用面射型激光半導(dǎo)體測試，依照選擇不同的光偵測器即可符合不同波長的半導(dǎo)體激光測試。
	面射型激光半導(dǎo)體測試機(jī) Model 58173-V	致茂根據(jù)在LED晶圓特性檢測設(shè)備上豐富的經(jīng)驗(yàn)，提供*新一代58173-V面射形激光晶圓的檢測設(shè)備，保有LED上高速測試，高可靠度與可編程的優(yōu)勢，并考慮半導(dǎo)體激光使用特性，加入溫控平臺提供高低溫的環(huán)境更符合使用者真實(shí)使用情況。
	激光半導(dǎo)體特性測試機(jī) Model 58620	激光半導(dǎo)體為高科技產(chǎn)品，價(jià)格不斐，多數(shù)使用于光通訊/醫(yī)療/國防等領(lǐng)域，并與人類社會息息相關(guān)。傳統(tǒng)的激光半導(dǎo)體因價(jià)格高昂，可靠性要求程度極高，需要大量的人工與時(shí)間來進(jìn)行光路調(diào)整(Alignment)測試與封裝后的檢測。
	燒機(jī)測試系統(tǒng) Model 58601	燒機(jī)-可靠度&老化測試致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU，溫度控制與可符合不同光電半導(dǎo)體。可供發(fā)光二極體，雷射半導(dǎo)體，光電偵測器與其他半導(dǎo)體使用。每個(gè)模組*高可測試80組獨(dú)立SMU，可提供待測物電流與偏壓并量測之。
	影像傳感器檢測系統(tǒng) Model 7970	Chroma 7970 影像傳感器檢測系統(tǒng)為一自動化載盤式外觀檢測系統(tǒng)。系統(tǒng)主要可分為5個(gè)部份：載盤載入?yún)^(qū)、錫球面檢測區(qū)、玻璃面檢測區(qū)、分類區(qū)與載盤載出區(qū)。每一個(gè)站點(diǎn)都可同步進(jìn)行作業(yè)，以增加整體檢測速度。
	觸碰面板多點(diǎn)半自動測試機(jī) Model 3813	Model 3813 觸碰面板多點(diǎn)半自動測試機(jī)
	SD Card 測試分類機(jī) Model 3280	Chroma 3280整合了測試機(jī)臺與自動分類機(jī)的功能，并采用**的設(shè)計(jì)，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機(jī)臺的成本或是體積上，都比傳統(tǒng)的測試機(jī)臺來的大幅降低，因此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
	自動化系統(tǒng)功能測試機(jī) Model 3260	Chroma 3260以并排平行方式，進(jìn)行測試。在高溫下具有自動溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125度可測試1至6個(gè)測試座。
	自動化系統(tǒng)功能測試機(jī) Model 3240	Chroma 3240以并排平行方式，進(jìn)行測試。在高溫下具有自動溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125 度可測試1至4個(gè)測試座。
	終端測試分類機(jī) Model 3160	3160/3160-A有著高可靠性的處理機(jī)制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產(chǎn)治具相容，順暢的自動化技術(shù)滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此外，可調(diào)式的壓測力和位置校正以及各種感應(yīng)裝置可降低待測物發(fā)生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時(shí)保持或提升產(chǎn)能的良率。
	四象限直流電源供應(yīng)模塊 Model 36020	應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Consumer IC and electronics test DUT Power Supply
	可程控邏輯腳位模塊 Model 36010	應(yīng)用范圍 Logic and mixed signal validation and test Digital pattern generator and vector capture Consumer IC and electronics test Logic test subsystem for DC and RF ATE
	SoC 測試系統(tǒng) Model 3650	平行測試功能 Chroma 3650可在一個(gè)測試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能，高可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個(gè)數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個(gè)數(shù) 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3380-P	Model 3380-P VLSI 測試系統(tǒng)
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3360	Model 3360 VLSI 測試系統(tǒng)
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3360-P	Model 3360-P VLSI 測試系統(tǒng)
	VLSI 測試系統(tǒng) Model 3360-D	Model 3360-D VLSI 測試系統(tǒng)