致茂58620為一全新概念機種,專為激光半導體(Laser Diode)所打造設計,搭配自 動化特性檢測All-In-One設計概念,可供不同的測試項目同時進行檢測;搭配高 容量的載具設計,可供多顆激光芯片(Chip level)進行大量測試;另外藉由光學定 位輔助(AOI),可提升自動化檢測的速度與可靠性;高穩(wěn)定性的溫控平臺設計,可 讓研發(fā)人員**地了解激光半導體特性與溫度的關系。
致茂58620 可應用于研發(fā)單位小量試產(chǎn)驗證( Laboratory ) 或是生產(chǎn)單位 (Production),可有效提高激光半導體測試產(chǎn)出率(Throughput)。
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