日本日置 IM3536 LCR測試儀
日本日置 IM3536 LCR測試儀DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標(biāo)桿產(chǎn)品
測量頻率DC，4Hz~8MHz
測量時間：*快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量
從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
日本日置 IM3536 LCR測試儀主機不標(biāo)配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。
日本日置 IM3536 LCR測試儀
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測量模式
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LCR（單一條件下測量），連續(xù)測量（保存條件下連續(xù)測量）
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測量參數(shù)
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Z, Y,
θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs
(ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
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測量量程
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100
mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數(shù)由Z規(guī)定）
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顯示范圍
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Z: 0.00
m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ±
(0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%:
± (0.000 %~999.999 %)等
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基本精度
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Z: 0.05
% rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
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測量頻率
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4 Hz~8
MHz (10 mHz~100 Hz步進)
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測量信號電平
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[V模式,
CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (*大50
mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (*大10
mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (*大100
mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (*大5
V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (*大1
V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (*大1
V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
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DC偏壓
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發(fā)生范圍：DC電壓0~2.50
V (低Z高精度模式時0
~1 V)
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輸出阻抗
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通常模式：100
Ω, 低Z高精度模式:
10 Ω
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顯示
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彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
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功能
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比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
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接口
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EXT I/O
(處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C,
BCD輸出
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電源
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AC
100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
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體積及重量
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330W ×
119H × 230D mm, 4.2 kg
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附件
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電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應(yīng)用光盤）×1
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日本日置 IM3536 LCR測試儀選配件
SMD測試治具IM9100
9263 直接連接型，底部有電極SMD用，DC～8MHz，可測量樣品尺寸：0402～1005（JIS）
4端子探頭9140-10
DC~200kH，50 Ω，1 m長
測試治具9261-10
9263 線長1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可測端口直徑：0.3~1.5mm
測試冶具 9262
DC～8 MHz, 直結(jié)型
SMD測試冶具 9263
9263 直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm
DC偏置電壓單元 9268-10
直接連接型，40Hz~8MHz，*大外加電壓DC±40V
DC偏置電流單元 9269-10
直接連接型，40Hz~2MHz，*大外加電流DC 2A(*大外加電壓DC±40V)
4端子探頭 9500-10
線長1m，DC~200kHz，50Ω，可測導(dǎo)體直徑φ0.3mm~2mm
SMD測試治具9677
用于側(cè)面有電極的SMDDC~120MHz，測試樣品尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699
用于底部有電極的SMDDC~120MHz，測試樣品尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
前端探針I(yè)M9901
用于更換L2001的前端的通用尺寸，L2001標(biāo)配
前端探針I(yè)M9902
用于更換L2001的前端的小型尺寸
