日本日置 IM3523 LCR測試儀 日本日置 IM3523 LCR測試儀應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇 基本精度±0.05％，測量范圍廣泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。 內置比較器和BIN功能 2毫秒的快速測試時間 日本日置 IM3523 LCR測試儀不標配測量探頭和測試夾具。請結合應用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接：交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637，不需要硬件控制器。
日本日置 IM3523 LCR測試儀
測量模式
LCR,連續(xù)測試
測量參數
Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
測量量程
100mΩ～100MΩ,10個量程(所有參數根據Z定義)
可顯示量程
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ～9.99999G [單位])(*為*高分辯率時的顯示位數） 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度
Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測量頻率
40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
測量信號電平
正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
輸出阻抗
正常模式：100Ω
顯示
單色LCD
測量時間
2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能
比較器，分類測量(BIN功能)，節(jié)點負載/補償，記憶功能
接口
EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一
電源
100～240V AC，50/60Hz，*大50VA
尺寸及重量
260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件
電源線×1，操作手冊×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1
粵公網安備 44030402001250號